本发明专利技术提供一种共模电流噪声磁场探测装置，由金属表层和金属二层、金属三层、金属底层以及之间设置的介质隔离层叠加组合，并通过其四周边沿直线均匀分布的多个金属轴销紧固一体构成一个测试底板，在测试底板上装有两个垂直并列的同轴电缆，在金属表层和金属二层以及金属三层和金属底上分别设置有不同的金属走线或金属导线。本发明专利技术可通过电磁感应把待测设备的磁场噪声转变为电流，再通过同轴电缆连接的同轴线传输到测量仪器，能整体屏蔽背景电磁噪声和抑制差分线中差模电流磁场，提高测试效果的作用。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供一种共模电流噪声磁场探测装置，由金属表层和金属二层、金属三层、金属底层以及之间设置的介质隔离层叠加组合，并通过其四周边沿直线均匀分布的多个金属轴销紧固一体构成一个测试底板，在测试底板上装有两个垂直并列的同轴电缆，在金属表层和金属二层以及金属三层和金属底上分别设置有不同的金属走线或金属导线。本专利技术可通过电磁感应把待测设备的磁场噪声转变为电流，再通过同轴电缆连接的同轴线传输到测量仪器，能整体屏蔽背景电磁噪声和抑制差分线中差模电流磁场，提高测试效果的作用。【专利说明】共模电流噪声磁场探测装置
本专利技术涉及一种电流噪声探测装置，具体的说是一种共模电流噪声磁场探测装置。
技术介绍
电磁兼容(EMC)是指电气及电子设备在共同的电磁环境中能够执行各自功能的共存状态，即要求在同一电磁环境中的上述各种设备都能正常工作又互不干扰，达到兼容状态。随着各种电子设备、光电、计算机、通信及信息处理类设备的广泛使用，使其应用的电磁环境越来越复杂，因而对各种电气及电子设备的电磁兼容性要求越来越高，这些电气及电子设备的电磁兼容性已成为产品交付时不可欠缺的重要指标之一，比如说CISPR(国际无线电干扰特别委员会)22中明确定义，在230MHz-1000MHz范围内，CLASS (等级)A的设备的辐射场强必须小于57dBuV/m(dBuV是以分贝数表示的电压值，dBuV/m即每米对应的电压值)。随着通信技术的发展，现代电子系统中的器件和高速走线密度很高，芯片工作频率很高已经成为趋势。这种发展趋势对电子产品的EMC性能设计提出了更高的要求。电子产品外壳的屏蔽效能与频率成反比关系，频率越高，电子产品外壳屏蔽效能越低，因此，电子产品的高频EMC性能已经成为电子产品的瓶颈。在产品开发过程中，EMC预测试在整个产品的研制生产中是重要的测试手段，可及时检验产品的EMC设计是否合理，所采取的EMI (电磁干扰)抑制措施是否奏效，使设计人员尽快了解要进一步抑制干扰需要从哪些环节入手。因此，开发一种适用于各种电气及电子设备内部电磁环境摸底测试，能够对高频电磁场辐射发射(1GH-18GHZ)指标进行检测的探头装置已很有必要。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种共模电流噪声磁场探测装置，可克服现有技术中存在的探头频率窄，无法区分共模电流噪声和背景噪声抑制差等诸多问题，具有灵敏度高、效果好的特点。本专利技术包括同轴电缆，所采用的技术方案在于:由金属表层和金属二层、金属三层、金属底层以及之间设置的介质隔离层叠加组合，并通过其四周边沿直线均匀分布的多个金属轴销紧固一体构成一个测试底板，在测试底板上装有两个垂直并列的同轴电缆，所装同轴电缆上端设有接头，下端穿过金属表层将内芯焊接在金属二层的导线头上，在金属表层和金属二层以及金属三层和金属底层上分别设置有不同的金属走线或金属导线。上述技术方案中:金属表层所设置的金属走线顺四周内边循环排列，中间部位在两个同轴电缆两侧各形成一个相对排列的“几”形结构。金属二层上的金属走线顺四周内边环状设置，在金属走线内有一个“S”形金属导线，金属导线弯折至中间的两个端头是焊接内芯的导线头。金属三层上设置有顺四周内边的环状金属走线，中间有一个“I”字形的金属走线。金属底层上顺四周内边有一个圈环状金属走线。所述同轴电缆是阻抗50欧姆的半钢同轴电缆。本专利技术与传统的磁场探头技术相比较，具有如下显著优势效果:由于采用数块金属块层通过四周多个轴销紧固连接，可形成四周为金属体的屏蔽效果，加之分别设置不同的金属走线和金属导线，所构成的装置频带范围可达到10GH，可单独测试共模电流的噪声，解决了现有技术中磁场探头容易受背景电磁噪声干扰的问题，具有屏蔽效果好、能有效抵制背景电磁噪声、确保测试效果的真实等特点。【专利附图】【附图说明】下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步详述。图1为本专利技术结构示意图。图2为本专利技术金属二层结构示意图。图3为本专利技术金属三层结构示意图。图4为本专利技术金属底层结构示意图图中:1、金属表层，2、金属二层,3、金属三层,4、金属底层,5、介质隔离层,6、金属轴销，7、金属走线，8、同轴电缆，9、内芯，10、接头，11、导线头，12、金属导线。【具体实施方式】图1、2、3、4所不:由金属表层I和金属二层2、金属三层3、金属底层4以及之间设置的介质隔离层5叠加组合，并通过其四周边沿直线均匀分布的多个金属轴销6紧固一体构成一个测试底板，在测试底板上装有两个垂直并列的同轴电缆8，所装同轴电缆8上端设有接头10，下端穿过金属表层I将内芯9焊接在金属二层2的导线头11上，在金属表层I和金属二层2以及金属三层3和金属底层4上分别设置有不同的金属走线7或金属导线12。金属表层I所设置的金属走线7顺四周内边循环排列，中间部位在两个同轴电缆8两侧各形成一个相对排列的“几”形结构。金属二层2上的金属走线7顺四周内边环状设置，在金属走线7内有一个“S”形金属导线12，金属导线12弯折至中间的两个端头是焊接内芯9的导线头11。金属三层3上设置有顺四周内边的环状金属走线7，中间有一个“I”字形的金属走线7。金属底层4上顺四周内边有一个圈环状金属走线7。同轴电缆8是阻抗50欧姆的半钢同轴电缆8。本专利技术中所涉及的金属表层1、金属二层2、金属三层和金属底层4为传统的PCB,即:印刷电路板。介质隔离层5为传统印刷电路板中间的隔离夹层。【权利要求】1.一种共模电流噪声磁场探测装置，包括同轴电缆(8)，其特征在于:由金属表层(I)和金属二层(2)、金属三层(3)、金属底层(4)以及之间设置的介质隔离层(5)叠加组合，并通过其四周边沿直线均匀分布的多个金属轴销(6)紧固一体构成一个测试底板，在测试底板上装有两个垂直并列的同轴电缆(8)，所装同轴电缆(8)上端设有接头(10)，下端穿过金属表层(1)将内芯(9)焊接在金属二层(2)的导线头(11)上，在金属表层(I)和金属二层(2)以及金属三层(3)和金属底层(4)上分别设置有不同的金属走线(7)或金属导线(12)。2.根据权利要求1所述的共模电流噪声磁场探测装置，其特征在于:金属表层(I)所设置的金属走线(7)顺四周内边循环排列，中间部位在两个同轴电缆(8)两侧各形成一个相对排列的“几”形结构。3.根据权利要求1所述的共模电流噪声磁场探测装置，其特征在于:金属二层(2)上的金属走线(7)顺四周内边环状设置，在金属走线(7)内有一个“S”形金属导线(12)，金属导线(12)弯折至中间的两个端头是焊接内芯(9)的导线头(11)。4.根据权利要求1所述的共模电流噪声磁场探测装置，其特征在于:金属三层(3)上设置有顺四周内边的环状金属走线(7)，中间有一个“I”字形的金属走线(7)。5.根据权利要求1所述的共模电流噪声磁场探测装置，其特征在于:金属底层(4)上顺四周内边有一个圈环状金属走线(7)。6.根据权利要求1所述的共模电流噪声磁场探测装置，其特征在于:所述同轴电缆(8)是阻抗50欧姆的半钢同轴电缆(8)。【文档编号】G01R29/26GK104020364SQ201410139712【公开日】2014年9月3日 申请日期:2014年4月4日 优先权日:2014年4月4日 【专利技术者】李刚, 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种共模电流噪声磁场探测装置，包括同轴电缆（8），其特征在于：由金属表层（1）和金属二层（2）、金属三层（3）、金属底层（4）以及之间设置的介质隔离层（5）叠加组合，并通过其四周边沿直线均匀分布的多个金属轴销（6）紧固一体构成一个测试底板，在测试底板上装有两个垂直并列的同轴电缆（8），所装同轴电缆（8）上端设有接头（10），下端穿过金属表层（1）将内芯（9）焊接在金属二层（2）的导线头（11）上，在金属表层（1）和金属二层（2）以及金属三层（3）和金属底层（4）上分别设置有不同的金属走线（7）或金属导线（12）。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：李刚，胡旭，胡明华，
申请(专利权)人：湖北文理学院，
类型：发明
国别省市：湖北;42
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