【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】图像采集方法
本专利技术涉及一种由包括至少一个光学设备的图像采集系统实现的采集物体的图像的方法,所述至少一个光学设备能够处理所采集的图像以便从所述物体提取至少一个特征。具体地,本专利技术涉及包括如下光学设备的采集系统,所述光学设备能够采集静止的和/或在可移动传送装置上处于运输的物体的图像。本专利技术进一步还涉及包括如下可移动光学设备的采集系统,即所述可移动光学设备连接到支撑底座,可随时间在多个不同位置之间连续移动,并且能够采集静止物体的图像。所述光学设备特别地连续改变空间中的取向以采集物体的图像。
技术介绍
在本说明书中以及随后的权利要求书中,表述“用于采集图像的光学设备”是指如下一种设备,其能够采集布置在支撑表面中的物体的图像,特别地,其能够采集所述物体的几何特征和/或形状特征,或者与所述物体相关联的光学信息。表述“光学信息”是指构成信息(不论经编码还是未经编码)的任何图形表示。经编码信息的一个示例是线性或二维光学代码,在其中对识别与光学代码相关联的物体的数据进行编码。通过由光元件(通常是白色空间)分离的暗(通常是黑)色的预设形状(例如,正方形、矩形或六边形)的元素的适当组合对信息进行编码,条形码、堆栈码和二维码(一般来说,彩色码等)是已知的。术语“光学信息”进一步包括(更一般来说)其它图形形状,其包括印刷或手写字符(字母、数字等)和特定形状(所谓的“图案”),比如戳记、标志、签名、指纹等,以及任何可检测的图形表示,不仅在可见光区域而且沿着包含在红外线与紫外线之间的整个波长。在现有技术中,在图像采集系统中,所谓的“无人看管扫描系统”是已知的,其包括数码相 ...
【技术保护点】
一种采集布置在支撑表面(4)上的物体(3)的图像的方法,其包括:提供所述物体(3)的具有光轴(V;V')的至少一个光学图像采集设备(2;102);在所述光学设备(2;102)的工作步骤中,处理所采集的图像以校正所述图像的可能的透视失真;从处理后的图像提取所述物体(3)的至少一个特征;其特征在于,所述方法包括:使已知参考平面与所述物体(3)相关联,并且在所述工作步骤之前所述光学设备(2;102)的配置步骤中,获得所述参考平面与所述光轴(V)之间的相对倾斜度;所述处理包括根据所述相对倾斜度识别预设的处理模式以及应用所述预设的处理模式来校正所述可能的透视失真。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2011.11.04 IT MO2011A000280;2011.11.04 IT MO2011A01.一种采集布置在支撑表面(4)上的物体(3)的图像的方法,其包括:提供所述物体(3)的具有光轴(V;V')的至少一个光学图像采集设备(2;102);在所述光学设备(2;102)的工作步骤中,处理所采集的图像以校正所述图像的可能的透视失真;从处理后的图像提取所述物体(3)的至少一个特征;其特征在于,所述方法包括:使已知参考平面与所述物体(3)相关联,并且在所述工作步骤之前所述光学设备(2;102)的配置步骤中,获得所述参考平面与所述光轴(V)之间的相对倾斜度;所述处理包括根据所述相对倾斜度识别预设的处理模式以及应用所述预设的处理模式来校正所述可能的透视失真;将所述相对倾斜度与最小阈值水平进行比较,并且其中如果所述相对倾斜度大于所述最小阈值水平或与所述最小阈值水平相同,则执行识别所述处理模式,其中识别预设的处理模式包括从多个不同处理模式中选择处理模式,并且使不同几何变换与每一处理模式相关联。2.根据权利要求1所述的方法,其包括使相应处理阈值与每一处理模式相关联,并且将所述相对倾斜度与所述多个处理阈值进行比较以识别所述预设的处理模式。3.根据权利要求1所述的方法,其包括将所述几何变换完全应用于所述所采集的图像,以校正所述所采集的图像并从透视校正后的整个图像提取所述特征。4.根据权利要求1所述的方法,其包括识别所述所采集的图像的感兴趣区域所位于的地区,将所述几何变换应用于所述地区用于透视校正所述地区,并且其中所述方法包括从透视校正后的所述地区提取所述特征。5.根据权利要求1所述的方法,其包括识别所述所采集的图像的感兴趣第一区域所位于的第一部分,从所述感兴趣注第一区域导出定位参考,将所述几何变换应用于所述定位参考,用于通过所述定位参考定位所述所采集的图像的感兴趣第二区域所位于的第二部分。6.根据权利要求5所述的方法,其包括将所述几何变换应用于所述第二部分以透视校正所述第二部分,并且其中所述方法包括从透视校正后的所述第二部分提取所述特征。7.根据权利要求5所述的方法,其包括从所述第二部分提取变形特征,并且基于所述相对倾斜度校正所述变形特征以获得透视校正后的特征。8.一种采集布置在支撑表面(4)上的物体(3)的图像的方法,其包括:提供所述物体(3)的具有光轴(V;V')的至少一个光学图像采集设备(2;102);在所述光学设备(2;102)的工作步骤中,处理所采集的图像以校正所述图像的可能的透视失真;从处理后的图像提取所述物体(3)的至少一个特征;其特征在于,所述方法包括:使已知参考平面与所述物体(3)相关联,并且在所述工作步骤之前所述光学设备(2;102)的配置步骤中,获得所述参考平面与所述光轴(V)之间的相对倾斜度;所述处理包括根据所述相对倾斜度识别预设的处理模式以及应用所述预设的处理模式来校正所述可能的透视失真,其中获得相对倾斜度包括获得所述参考平面相对于重力以及所述光轴(V)相对于重力的相应倾斜度,并且从所述相应倾斜度计算所述相对倾斜度。9.根据权利要求8所述的方法,其中所述物体(3)为盒状主体,其具备彼此垂直的上表面(3a)和侧表面(3b、3c),所述参考平面与所述盒状主体的表面(3a、3b、3c)有关。10.根据权利要求9所述的方法,其中获得所述参考平面的所述倾斜度包括通过在图形用户接口装置(7)的屏幕(8)中进行手动设置来获得感兴趣的所述表面(3a、3b、3c)和/或所述支撑表面(4)的倾斜度值,或者当所述光学设备(2)由操作者搁置在这种参考平面和/或这种支撑表面(4)上时,获得从以一体或合并方式与所述光学设备(2)相关联的倾斜检测构件接收的值。11.根据权利要求9所述的方法,其中所述支撑表面(4)是水平的,所述相对倾斜度对应于所述光轴(V)相对于重力的所述倾斜度,并且在笛卡尔参考系中,所述倾斜度仅由所述光轴与垂直轴Z之间的预设角(α)定义,且所述方法包括如果所述预设角(α)小于相应阈值,特别是45°,则应用与所述预设角(α)有关的几何变换,以采集所述物体的横向前表面(3b)的图像。12.根据权利要求9所述的方法,其中所述支撑表面(4)是水平的,所述相对倾斜度从所述光轴(V)相对于重力的所述倾斜度获得,且在笛卡尔参考系中,所述倾斜度专门由所述光轴(V)与垂直轴Z之间的预设角(α)定义,并且所述方法包括如果所述预设角(α)大于相应阈值,特别是45°,或与之相同,则考虑所述预设角(α)的互补角(β)并应用与所述互补角(β)有关的几何变换,以采集所述上表面(3a)的图像。13.根据权利要求8所述的方法,其中接收所述光轴(V)的所述倾斜度包括获得在图形用户接口装置(7)的屏幕(8)中手动设置的值,或获得由以一体或合并方式与所述光学设备(2;102)相关联的倾斜检测构件接收的值。14.根据权利要求8所述的方法,其中所述物体是具备至少一个弯曲外部表面的弯曲形主体,并且其中所述参考平面对应于与所述弯曲表面相切的平面。15.一种采集布置在支...
【专利技术属性】
技术研发人员:M·本德缇,R·木斯阿尼,
申请(专利权)人:得利捷IP科技有限公司,
类型:发明
国别省市:意大利;IT
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