一种石英晶体的测试头制造技术

本实用新型专利技术公开了一种石英晶体的测试头，解决了现有石英晶体测试头上探针易损，使用寿命不长的问题。其包括集成线路板以及与集成线路板配合的测试头本体，测试头本体的下端面设有向外延伸的延伸部，该延伸部与测试头本体一体成型并相互垂直，测试头本体的上端面设有螺纹孔，测试头本体在与延伸部相垂直的铅垂线上设有探针孔，该探针孔贯穿测试头本体和延伸部，探针孔内设有探针，探针孔在位于延伸部外端面的一端设有收腰孔，该收腰孔孔径小于探针孔孔径，可防止探针向下滑出。集成线路板上设有与探针电连接的金属触片。本实用新型专利技术将整个探针的主体置于测试头本体和延伸部的内部，只露出探针的针头，使得探针在测试时能得到很好的保护。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
—种石英晶体的测试头
本技术涉及石英晶体的测试设备领域，具体涉及一种用于测试石英晶体上针脚电性良劣与否的测试头。
技术介绍
石英晶体是石英晶体谐振器的核心器件，为了提高石英晶体谐振器的工作精度，在其生产过程中需要经过多次的检测，在现有技术中，石英晶体上的针脚电性良劣是通过测试板上的探针与石英晶体上的针脚相接触，使待测石英晶体上的针脚通过探针与集成线路板构成电性连接。然而，由于探针直径较小的结构特性，使其在频繁的测试时容易受到垂直于探针长度方向的力，这样一来容易造成探针发生弯曲，造成探针使用寿命的降低，另夕卜，探针细小的针头与集成线路板一般是通过焊接或插接的方式进行连接，在探针损坏后需要更换整个测试头，不仅影响测试头的使用寿命，降低生产效率，也会影响到石英晶体的最终真实测量结果，使产品的不良率增加。
技术实现思路
为了解决上述技术存在的缺陷，本技术提供一种用于测试石英晶体上针脚电性良劣与否的测试头。本技术实现上述技术效果所采用的技术方案是:一种石英晶体的测试头，包括集成线路板以及与所述集成线路板配合的测试头本体，所述测试头本体的下端面设有向外延伸的延伸部，该延伸部与所述测试头本体一体成本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种石英晶体的测试头，其特征在于，包括集成线路板以及与所述集成线路板配合的测试头本体，所述测试头本体的下端面设有向外延伸的延伸部，该延伸部与所述测试头本体一体成型并相互垂直，所述测试头本体在与所述延伸部相垂直的铅垂线上设有探针孔，该探针孔贯穿所述测试头本体和所述延伸部，所述探针孔内设有探针。

【技术特征摘要】
1.一种石英晶体的测试头，其特征在于，包括集成线路板以及与所述集成线路板配合的测试头本体，所述测试头本体的下端面设有向外延伸的延伸部，该延伸部与所述测试头本体一体成型并相互垂直，所述测试头本体在与所述延伸部相垂直的铅垂线上设有探针孔，该探针孔贯穿所述测试头本体和所述延伸部，所述探针孔内设有探针。2.根据权利要求1所述的一种石英晶体的测试头，其特征在于，所述测试头本体的上端面设有螺纹孔，所述测试头本体的上端面左右两侧设有挡板。3.根据权利要求1所述的一种石英晶...

【专利技术属性】
技术研发人员：汤海燕，
申请(专利权)人：汇隆电子金华有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33