全差分式浮地有源电感制造技术

技术编号:10353413 阅读:100 留言:0更新日期:2014-08-27 09:54
本发明专利技术涉及射频集成电路领域,特别涉及一种全差分式浮地有源电感,具有宽频带、高Q(品质因子)值、可调谐的特点。本发明专利技术采用两个差分对电路配置分别提供正、负跨导,采用共栅电路结构作电流缓冲器,使由负跨导产生的电流返回到输入端。其中负跨导差分对电路采用直接交叉耦合结构,形成负阻补偿网络以抵消电流缓冲器产生的电阻,从而减小实部损耗,增大Q值。进一步地,在正跨导与负跨导之间加入反馈电阻,增大Q值。电流缓冲器与负跨导差分对电路的栅源电容之和构成了回转电容,所以浮地有源电感具有较大的等效电感值。通过调节电流源的控制电压,可调谐电感值和Q值。

【技术实现步骤摘要】
全差分式浮地有源电感
本专利技术涉及射频集成电路领域,特别涉及一种全差分式浮地有源电感。
技术介绍
随着无线通讯技术的快速发展,电感元件在通讯系统中扮演着越来越重要的角色,尤其在射频电路中。电感以其独特的特性,被广泛用于阻抗匹配、带宽拓展,频率补偿等,在低噪声放大器、功率放大器、振荡器、混频器等射频电路中起着至关重要的作用。为了实现全集成的射频电路,片上无源螺旋电感得到了广泛应用。尽管它具有良好的线性度、较低的噪声及较低的功耗等优点。但它占用较大的芯片面积,而且电感值不可调谐、Q值低,严重限制了电路性能。近些年来,人们对采用有源器件合成电感特性电路(即有源电感)产生了浓厚兴趣。因为有源电感占用芯片面积小、品质因子Q值高,并且其等效电感值和品质因子Q值可调谐,特别适合于在全集成射频电路中的应用。有源电感大致分为两类。一类是单端接地有源电感,另一类是双端浮地有源电感。在单端接地有源电感的接地端,串联电流源和旁路电容后,形成另一端口,可构成双端浮地有源电感。但由于其具有非对称性,只在一端显示电感性能,限制了这种结构有源电感的使用。而采用全差分式电路的浮地双端有源电感,因其端口具有互易性,克服了常规双端浮地有源电感的缺点。
技术实现思路
:本专利技术提供一种高Q值、宽频带、小面积、可调谐的全差分式浮地有源电感。本专利技术属于射频集成电路领域。全差分式浮地有源电感,其特征在于:包括第一控制电流源1和第二控制电流源2,第一NMOS偏置电流源3和第二NMOS偏置电流源4,NMOS差分对电路5,PMOS差分对电路6,第一PMOS电流缓冲器7和第二PMOS电流缓冲器8,第一PMOS偏置电流源9和第二PMOS偏置电流源10,反馈电阻11;反馈电阻11包括NMOS差分对电路5和PMOS差分对电路6差分支路上的两个反馈电阻Rf1和Rf2;第一控制电流源1为PMOS管,其源端接电源VDD,栅端为电压控制端VcontP,漏端为第一控制电流源1的输出;第二控制电流源2为NMOS管,其源端接地,栅端为电压控制端VcontN,漏端为第二控制电流源2输出;第一NMOS偏置电流源3和第二NMOS偏置电流源4的栅端接VBIAS1,源端接地,漏端为第一NMOS偏置电流源3和第二NMOS偏置电流源4的输出;第一PMOS偏置电流源9和第二PMOS偏置电流源10的栅端接VBIAS3,源端接电源VDD,漏端为第一PMOS偏置电流源9和第二PMOS偏置电流源10的输出;NMOS差分对电路5的两个源端同接第二控制电流源2的漏端,两个栅端分别接第一NMOS偏置电流源3和第二NMOS偏置电流源4的输出,两个漏端分别接反馈电阻Rf1和Rf2的一端,其中两个栅端分别引出两个浮地端口Vin+和Vin-;第一PMOS电流缓冲器7和第二PMOS电流缓冲器8,其栅端接VBIAS2,源端分别接第一PMOS偏置电流源9和第二PMOS偏置电流源10的漏端,漏端分别接浮地端口Vin+和Vin-;PMOS差分对电路6采用直接交叉耦合结构的连接方式,其源端同接第一控制电流源1的漏输出端,两个栅端分别接第一PMOS电流缓冲器7和第二PMOS电流缓冲器8的源端以及Rf1和Rf2的的另一端,即PMOS差分对电路6和NMOS差分对电路5通过反馈电阻11连接起来;PMOS差分对电路6的两个漏端交叉分别连接反馈电阻Rf2和Rf1的另一端;所有的NMOS衬底接地,所有的PMOS衬底接源端。所述NMOS差分对电路5,其源端接第二控制电流源2漏端,两个栅端分别接输入端口Vin+和Vin-,漏端为NMOS差分对电路5的输出,构成正跨导。所述PMOS差分对电路6,采用直接交叉耦合结构,两个源端同接第一控制电流源1的漏端,MP1的栅端接反馈电阻Rf1一端,反馈电阻Rf1另一端接NMOS差分对电路中MN1的漏输出端,MP2的栅端接反馈电阻Rf2一端,反馈电阻Rf2另一端接NMOS差分对电路中MN2的漏输出端,PMOS差分对电路构成负跨导。所述反馈电阻11,可提高所述全差分式浮地电感的等效电感值及Q值。所述第一PMOS电流缓冲器7和第二PMOS电流缓冲器8,采用共栅结构的PMOS管。所述第一电流缓冲器7源端接第一PMOS偏置电流源9漏端与PMOS差分对电路6中MP1的栅端,漏端接输入端Vin+,所述第二电流缓冲器8源端接第二PMOS偏置电流源10的晶体管漏端与PMOS差分对电路6中MP2的栅端,漏端接输入端Vin-,所述第一PMOS电流缓冲器7和第二PMOS电流缓冲器8的栅端接VBIAS2。所述采用直接交叉耦合结构的PMOS差分对电路6产生负阻,可抵消由共栅结构的第一PMOS电流缓冲器7和第二PMOS电流缓冲器8所产生的电阻,提高负跨导的输出阻抗,进一步提高Q值。附图说明:图1全差分式浮地有源电感电路拓扑结构;图2全差分式浮地有源电感框图;图3等效单端接地有源电感框图;图4全差分式浮地有源电感小信号等效电路图;图5电感值随控制电压的变化曲线;图6Q值随控制电压的变化曲线。主要元件符号说明:(1)-第一控制电流源(2)-第二控制电流源(3)-第一NMOS偏置电流源(4)-第二NMOS偏置电流源(5)-NMOS差分对电路(6)-PMOS差分对电路(7)-第一PMOS电流缓冲器(8)-第二PMOS电流缓冲器(9)-第一PMOS偏置电流源(10)-第二PMOS偏置电流源(11)-反馈电阻具体实施方式:为了使本
技术实现思路
更直观易懂,下面结合附图,对本专利技术进行详细说明。本专利技术基于TSMCRFCMOS0.18μm工艺进行设计和验证。整个电路的拓扑如图1所示。主要包括:第一控制电流源(1)和第二控制电流源(2),第一NMOS偏置电流源(3)和第二NMOS偏置电流源(4),NMOS差分对电路(5),PMOS差分对电路(6),第一PMOS电流缓冲器(7)和第二PMOS电流缓冲器(8),第一PMOS偏置电流源(9)和第二PMOS偏置电流源(10),反馈电阻(11);反馈电阻(11)包括NMOS差分对电路(5)和PMOS差分对电路(6)差分支路上的两个反馈电阻Rf1和Rf2;其中MN1、MN2、MNS1、MNS2、McontN是NMOS晶体管,其中MNS1为第一NMOS偏置电流源(3),MNS2为第二NMOS偏置电流源(4),McontN为第二控制电流源(2),MN1和MN2以共源方式连接,构成正跨导差分对电路(5),MN1栅端接输入端Vin+,源端接McontN管的漏端,MN2栅端接输入端Vin-,源端接McontN管的漏端。MP1、MP2、MPS1、MPS2、McontP、Mpb1、Mpb2是PMOS晶体管,其中MPS1和MPS2构成第一偏置电流源(9)和第二偏置电流源(10),Mpb1采用共栅结构连接,构成第一电流缓冲器(7),Mpb2采用共栅结构连接,构成第二电流缓冲器(8),McontP为第一控制电流源(1),MP1和MP2管以直接交叉耦合方式连接,构成负跨导(6),其中MP1的栅端接MPS1的漏端和Mpb1的源端,MP2的栅端接MPS2的漏端和Mpb2的源端,并且MP1的栅端与MN1的漏端通过反馈电阻Rf1相连,MP2的栅端与MN2的漏端通过反馈电阻Rf2相连,MP1的栅端与MP2的漏端相连,MP2的栅端与MP1的漏端相连,本文档来自技高网
...
全差分式浮地有源电感

【技术保护点】
全差分式浮地有源电感,其特征在于:包括第一控制电流源(1)和第二控制电流源(2),第一NMOS偏置电流源(3)和第二NMOS偏置电流源(4),NMOS差分对电路(5),PMOS差分对电路(6),第一PMOS电流缓冲器(7)和第二PMOS电流缓冲器(8),第一PMOS偏置电流源(9)和第二PMOS偏置电流源(10),反馈电阻(11);反馈电阻(11)包括NMOS差分对电路(5)和PMOS差分对电路(6)差分支路上的两个反馈电阻Rf1和Rf2;第一控制电流源(1)为PMOS管,其源端接电源VDD,栅端为电压控制端VcontP,漏端为第一控制电流源(1)的输出;第二控制电流源(2)为NMOS管,其源端接地,栅端为电压控制端VcontN,漏端为第二控制电流源(2)输出;第一NMOS偏置电流源(3)和第二NMOS偏置电流源(4)的栅端接VBIAS1,源端接地,漏端为第一NMOS偏置电流源(3)和第二NMOS偏置电流源(4)的输出;第一PMOS偏置电流源(9)和第二PMOS偏置电流源(10)的栅端接VBIAS3,源端接电源VDD,漏端为第一PMOS偏置电流源(9)和第二PMOS偏置电流源(10)的输出;NMOS差分对电路(5)的两个源端同接第二控制电流源(2)的漏端,两个栅端分别接第一NMOS偏置电流源(3)和第二NMOS偏置电流源(4)的输出,两个漏端分别接反馈电阻Rf1和Rf2的一端,其中两个栅端分别引出两个浮地端口Vin+和Vin‑;第一PMOS电流缓冲器(7)和第二PMOS电流缓冲器(8),其栅端接VBIAS2,源端分别接第一PMOS偏置电流源(9)和第二PMOS偏置电流源(10)的漏端,漏端分别接浮地端口Vin+和Vin‑;PMOS差分对电路(6)采用直接交叉耦合结构的连接方式,其源端同接第一控制电流源(1)的漏输出端,两个栅端分别接第一PMOS电流缓冲器(7)和第二PMOS电流缓冲器(8)的源端以及Rf1和Rf2的的另一端,即PMOS差分对电路(6)和NMOS差分对电路(5)通过反馈电阻(11)连接起来;PMOS差分对电路(6)的两个漏端交叉分别连接反馈电阻Rf1和Rf2的另一端;所有的NMOS衬底接地,所有的PMOS衬底接源端。...

【技术特征摘要】
1.全差分式浮地有源电感,其特征在于:包括第一控制电流源(1)和第二控制电流源(2),第一NMOS偏置电流源(3)和第二NMOS偏置电流源(4),NMOS差分对电路(5),PMOS差分对电路(6),第一PMOS电流缓冲器(7)和第二PMOS电流缓冲器(8),第一PMOS偏置电流源(9)和第二PMOS偏置电流源(10),反馈电阻(11);反馈电阻(11)包括NMOS差分对电路(5)和PMOS差分对电路(6)差分支路上的两个反馈电阻Rf1和Rf2;第一控制电流源(1)为PMOS管,其源端接电源VDD,栅端为电压控制端VcontP,漏端为第一控制电流源(1)的输出;第二控制电流源(2)为NMOS管,其源端接地,栅端为电压控制端VcontN,漏端为第二控制电流源(2)输出;第一NMOS偏置电流源(3)和第二NMOS偏置电流源(4)的栅端接VBIAS1,源端接地,漏端为第一NMOS偏置电流源(3)和第二NMOS偏置电流源(4)的输出;第一PMOS偏置电流源(9)和第二PMOS偏置电流源(10)的栅端接VBIAS3,源端接电源VD...

【专利技术属性】
技术研发人员:张万荣赵飞义陈昌麟江之韵胡瑞心赵彦晓
申请(专利权)人:北京工业大学
类型:发明
国别省市:北京;11

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1