用于确定植体仿体位置的参考构件和系统技术方案

提供了用于确定植体仿体位置的参考构件，其包括具有第一侧面和基本上平行的第二侧面的梯形体。第一侧面限定第一尺寸，第二侧面限定出比第一尺寸大的第二尺寸。还提供了用于确定植体仿体位置的系统。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
用于确定植体仿体位置的参考构件和系统优先权声明本技术基于35U.S.C.§ 119(e)要求下述的优先权利，美国临时专利申请号61 / 718，462，专利技术人Geier，专利技术名称“用于确定植体或仿体位置的配合支撑架和参考体”，申请日2012年10月25日，美国临时专利申请号61 / 747，620，专利技术人Geier，专利技术名称“用于确定植体或仿体位置的配合支撑架和参考体”，申请日2012年12月31日，以及美国临时专利申请号61 / 800，899，专利技术人Geier，专利技术名称“用于确定植体仿体位置的参考构件”，申请日2013年3月15日，通过参考其全文而将其每个的内容结合与此。
本专利文件一般涉及用于在三维(3-D)空间中确定植体仿体位置的装置。
技术介绍
确定植体仿体的位置是困难的。可将植体仿体嵌入工作模型中。目前，可将参考构件旋拧至植体仿体，并且可通过多个扫描器确定植体仿体的对准和位置。参考构件是带有扁平段的圆柱形的或锥形的柱体，所述扁平段可用于构件体的几何定向。参考构件可与许多植体仿体系统中的每个相匹配。因此，需要高度的使用技巧和专注度来将参考构件本文档来自技高网...

【技术保护点】
用于确定植体仿体位置的参考构件(16)，其特征在于包括： 具有第一侧面(2)和平行的第二侧面(4)的梯形体(17)，所述第一侧面(2)限定第一尺寸(3)，所述第二侧面(4)限定比所述第一尺寸(3)大的第二尺寸(5)； 根面层(26)，其置于所述梯形体(17)的根端上，包括根孔(28)；以及 冠面层(6)，其置于所述梯形体(17)的冠状端上，至少包括第一参考码(10)和一个第二参考码(12)。

【技术特征摘要】
2012.10.25 US 61/718,462;2012.12.31 US 61/747,620;1.用于确定植体仿体位置的参考构件(16)，其特征在于包括: 具有第一侧面(2)和平行的第二侧面(4)的梯形体(17)，所述第一侧面(2)限定第一尺寸(3)，所述第二侧面(4)限定比所述第一尺寸(3)大的第二尺寸(5)； 根面层(26)，其置于所述梯形体(17)的根端上，包括根孔(28);以及 冠面层出)，其置于所述梯形体(17)的冠状端上，至少包括第一参考码(10)和一个第二参考码(12)。2.根据权利要求1所述的用于确定植体仿体位置的参考构件(16)，其特征在于:所述根面层(26)和冠面层(6)与所述梯形体(17)形成一体。3.根据权利要求1所述的用于确定植体仿体位置的参考构件(16)，其特征在于:所述根面层(26)和冠面层(6)形成为与所述梯形体(17)相联接的分开部件。4.根据权利要求1所述的用于确定植体仿体位置的参考构件(16)，其特征在于:所述第一参考码(10)具有不同于所述第二参考码(12)的编码。5.根据权利要求1所述的用于确定植体仿体位置的参考构件(16)，其特征在于:所述第一参考码(10)位于所述第一侧面(2)和冠面层(6)的中心(C)之间。6.根据权利要求5所述的用 于确定植体仿体位置的参考构件(16)，其特征在于:所述第二参考码(12)位于所述第二侧面(4)和冠面层(6)的中心(C)之间。7.根据权利要求1所述的用于确定植体仿体位置的参考构件(16)，其特征在于:所述第一和第二参考码(10，12)中的至少一个包括12位编码，32位编码或者64位编码。8.根据权利要求1所述的用于确定植体仿体位置的参考构件(16)，其特征在于:所述第一参考码(10)和第二参考码(12)为在扫描所述参考码(10，12)时提供所述参考构件(16)的定向的编码。9.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：A·盖尔，
申请(专利权)人：Zfx有限责任公司，
类型：新型
国别省市：德国;DE