性能测量单元、包括该单元的处理器核心和处理剖析方法技术

本发明专利技术提供了一种性能测量单元、包括该单元的处理器核心和处理剖析方法。所述性能测量单元包括：事件计数器，被配置为记录指示在处理器核心中发生的事件的数量的计数器值；映射事件计数器，被配置为将记录在事件计数器中的计数器值复制到映射事件计数器。所述性能测试单元被配置为使用事件计数器和映射事件计数器来确定在处理器核心中发生的有效事件的数量。所述有效事件与当执行所选择的处理时发生的事件相应。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供了一种。所述性能测量单元包括：事件计数器，被配置为记录指示在处理器核心中发生的事件的数量的计数器值；映射事件计数器，被配置为将记录在事件计数器中的计数器值复制到映射事件计数器。所述性能测试单元被配置为使用事件计数器和映射事件计数器来确定在处理器核心中发生的有效事件的数量。所述有效事件与当执行所选择的处理时发生的事件相应。【专利说明】本申请要求于2012年11月23日提交的第10_2012_0133858号韩国专利申请的优先权，该申请的公开通过引用全部合并于此。
本专利技术的示例性实施例涉及性能测量单元、包括该单元的处理器核心以及处理剖析方法。
技术介绍
参照执行指令的中央处理单元(CPU)，剖析涉及对当前运行的程序的执行状态或者与操作系统(OS)内核的通信状态的分析。通过利用剖析(profiling)，可测量程序的性能信息，并且可检测造成性能恶化的因素。
技术实现思路
本专利技术的示例性实施例提供了一种能够在多任务操作系统中进行复杂的处理剖析的性能测量单元。本专利技术的示例性实施例还提供了一种包括能够在多任务操作系统中进行复杂的处理剖析的性能测量单元的处理器核心。本专利技术的示例性实施例还提供了一种能够在多任务操作系统中进行复杂的处理剖析的处理剖析方法。根据本专利技术的示例性实施例，一种性能测量单元包括:第一事件计数器，记录指示在处理器核心中发生的事件的数量的计数器值；第二事件计数器，复制记录在第一事件计数器中的计数器值。根据本专利技术的示例性实施例，一种性能测试单元包括:事件计数器，记录指示在处理器核心中发生的事件的数量的计数器值；映射事件计数器，复制记录在事件计数器中的计数器值，其中，响应于第一指令来将所述记录在事件计数器中的计数器值复制到映射事件计数器。根据本专利技术的示例性实施例，一种处理器核心包括:中央处理单元(CPU)，执行一个或多个处理；性能测量单元，测量指示当执行一个或多个处理时发生的事件的数量的计数器值，其中，所述性能测量单元包括:第一事件计数器，记录计数器值；第二事件计数器，复制记录在第一事件计数器中的计数器值。根据本专利技术的不例性实施例，一种处理剖析方法包括:由处理器核心执行一个或多个处理，在第一事件计数器中记录指示当执行一个或多个处理时发生的事件的数量的计数器值，并且将记录在第一事件计数器中的计数器值复制到第二事件计数器。根据本专利技术的示例性实施例，一种性能测量单元包括:事件计数器，被配置为记录指示在处理器核心中发生的事件的数量的计数器值；映射事件计数器，被配置为将记录在事件计数器中的计数器值复制到映射事件计数器。所述性能测量单元被配置为使用事件计数器和映射事件计数器来确定在处理器核心中发生的有效事件的数量，其中，所述有效事件与当执行所选择的处理时发生的事件相应。根据本专利技术的示例性实施例，一种性能测量单元包括:事件计数器，被配置为记录指示在处理器核心中发生的事件的数量的计数器值；映射事件计数器，被配置为将记录在事件计数器中的计数器值复制到映射事件计数器。响应于第一指令来将记录在事件计数器中的计数器值复制到映射事件计数器。所述性能测量单元被配置为使用事件计数器和映射事件计数器来确定在处理器核心中发生的有效事件的数量，其中，所述有效事件与当执行所选择的处理时发生的事件相应。根据本专利技术的示例性实施例，一种处理器核心包括:中央处理单元(CPU)，被配置为执行一个或多个处理；性能测量单元，被配置为测量指示当执行一个或多个处理时发生的事件的数量的计数器值。所述性能测量单元包括:事件计数器，被配置为记录计数器值；映射事件计数器，被配置为将记录在事件计数器中的计数器值复制到映射事件计数器。所述性能测量单元被配置为使用事件计数器和映射事件计数器来确定在处理器核心中发生的有效事件的数量，其中，所述有效事件与当执行从所述一个或多个处理之中所选择的处理时发生的事件相应。根据本专利技术的不例性实施例，一种处理剖析方法包括:由处理器核心执行一个或多个处理，在事件计数器中记录指示当执行一个或多个处理时发生的事件的数量的计数器值，将记录在事件计数器中的计数器值复制到映射事件计数器，并且使用计数器值来确定在处理器核心中发生的有效事件的数量，其中，有效事件与当执行从所述一个或多个处理之中所选择的处理时发生的事件相应。根据本专利技术的不例性实施例，一种处理剖析方法包括:由处理器核心执行一个或多个处理，在事件计数器中记录指示当执行一个或多个处理时发生的事件的数量的计数器值，确定是否已经发生第一事件，当确定已经发生第一事件时将记录在事件计数器中的计数器值复制到映射事件计数器，当确定还未发生第一事件时确定是否已经发生第二事件，并且当确定已经发生第二事件时将复制到映射事件计数器的计数器值复制回事件计数器。【专利附图】【附图说明】通过参照附图详细描述本专利技术的示例性实施例，本专利技术的以上和其它特征将变得更加清楚，其中:图1是根据本专利技术的示例性实施例的性能测量单元的示意性框图；图2是根据本专利技术的示例性实施例的性能测量单元的示意性框图；图3是根据本专利技术的示例性实施例的性能测量单元的示意性框图；图4是示出根据本专利技术的示例性实施例的处理剖析方法的流程图；图5是示出根据本专利技术的示例性实施例的处理剖析方法的流程图；图6至图8示意性地示出根据本专利技术的示例性实施例的由处理剖析方法引起的事件计数器值的改变；图9是根据本专利技术的示例性实施例的处理器核心的示意性框图；图10是根据本专利技术的示例性实施例的处理器核心的示意性框图；图11是根据本专利技术的示例性实施例的包括处理器核心的剖析系统的示意性框图；图12是根据本专利技术的示例性实施例的合并处理器核心的电子系统的示意性框图；图13和图14示出可应用根据本专利技术的示例性实施例的处理器核心的示例性电子系统。【具体实施方式】在下文中，将参照附图更加充分地描述本专利技术的示例性实施例。贯穿附图，相似的符号可表示相似的元件。将理解的是，当层被表示为在另一层或底层“上”时，该层可直接在其它层或底层之上，或者也可存在中间层。在下面的描述中，性能测量单元(PMU)是处理器核心的内部组件之一。PMU是被配置为测量已经在处理器核心中发生的事件的组件。所述已经在处理器内核中发生的事件可以是例如存储选项(例如，读或写)、缓存事件(例如，命中、未命中或回写)、执行指令等，然而，所述事件不限于此。PMU计数器是被提供在PMU内的寄存器。所述PMU计数器对在处理器内核中发生的事件进行计数，并且记录PMU事件计数的累计值。PMU可被编程为软件，并且PMU计数器可使用特定汇编指令来执行读和写操作。在下面的描述中，从PMU计数器读取的PMU计数器值可被作为硬件PMU计数来使用。在下面的描述中，PMU计数器值可被称为事件计数器值。运行时间环境(RTE)和操作系统(OS)可管理硬件并且可支持多任务和处理调度。处理调度表示由支持分时系统的OS内核通过根据优先级的顺序划分中央处理单元(CPU)的使用时间来执行多个处理。尽管本专利技术的示例性实施例会将OS内核描述为Linux?内核,但OS内核不限于此。图1是根据本专利技术的示例性实施例的性能测量单元的示意性框图。参照图1，性能测量单元(PMU) 100可包括更新逻辑单元110、事件计数器120、映射事件计数器130本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种性能测量单元，包括：事件计数器，被配置为记录指示在处理器核心中发生的事件的数量的计数器值；映射事件计数器，被配置为将记录在事件计数器中的计数器值复制到映射事件计数器，其中，所述性能测量单元被配置为使用事件计数器和映射事件计数器来确定在处理器核心中发生的有效事件的数量，其中，所述有效事件与当执行所选择的处理时发生的事件相应。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：李敏周，艾格·伯恩哈德，李在镇，金永洛，金鸿圭，金洪准，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，首尔大学校产学协力团，
类型：发明
国别省市：无