外花键齿厚测具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种外花键齿厚测具，包括：依次同心叠加设置的上定位环、活动环与下定位环；以活动环的圆心为中心，活动环可于上定位环与下定位环之间转动；沿上定位环的周向，上定位环的内圆侧壁设置有第一测量齿；沿活动环的周向，活动环的内圆侧壁设置有第二测量齿；沿下定位环的周向，下定位环的内圆侧壁设置有第三测量齿；第一测量齿、第二测量齿与第三测量齿的形状大小一致，第一测量齿与第三测量齿对齐；以及，于活动环的外圆周侧设置有测量活动环转动距离的测量装置及推动活动环回转的复位机构。本实用新型专利技术结构简单，操作方便，上定位环、活动环与下定位环采用齿形内圆自身定位，具有较高的定位与测量精度。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术公开了一种外花键齿厚测具，包括：依次同心叠加设置的上定位环、活动环与下定位环；以活动环的圆心为中心，活动环可于上定位环与下定位环之间转动；沿上定位环的周向，上定位环的内圆侧壁设置有第一测量齿；沿活动环的周向，活动环的内圆侧壁设置有第二测量齿；沿下定位环的周向，下定位环的内圆侧壁设置有第三测量齿；第一测量齿、第二测量齿与第三测量齿的形状大小一致，第一测量齿与第三测量齿对齐；以及，于活动环的外圆周侧设置有测量活动环转动距离的测量装置及推动活动环回转的复位机构。本技术结构简单，操作方便，上定位环、活动环与下定位环采用齿形内圆自身定位，具有较高的定位与测量精度。【专利说明】外花键齿厚测具
本技术涉及测量工具，特别地，涉及一种外花键齿厚测具。
技术介绍
外花键零件广泛的应用于机械设备
，是非常重要的传动连接零件。外花键零件中作用齿厚与实际齿厚参数是外花键零件的重要结构尺寸。目前，业界较为常用的测量方法:一是使用齿厚轮游标尺直接测量。此种方式，操作比较方便，但测量精度很低，不适合精密齿轮的测量。另一种跨球距测量间接的对外花键进行测量。跨球距测量也是齿轮制造业中成熟的测量技术，该技术使用的检测工具为外径千分尺加两个直径相等的钢球或量棒，此种测量技术测量结果精确、可靠。但是，量具为松散的结构，组合测量操作不仅较麻烦，而且对操作人员测量技能有一定的要求，并需要较长的量测时间，效率低，仅适合专业人员测量，不适合生产线的快速作业需求。
技术实现思路
本技术目的在于提供一种外花键齿厚测具，以解决现有技术中齿厚轮游标尺测量精度低，而跨球距测量又需要操作人员具有较高测量技能，效率低的技术问题。为实现上述目的，根据本技术的一个方面，提供了一种外花键齿厚测具，包括:内圆直径一致的上定位环、活动环与下定位环，上定位环、活动环与下定位环同心的依次叠加设置；以活动环的圆心为中心，活动环可于上定位环与下定位环之间转动；沿上定位环的周向，上定位环的内圆侧壁设置有第一测量齿；沿活动环的周向，活动环的内圆侧壁设置有第二测量齿；沿下定位环的周向，下定位环的内圆侧壁设置有第三测量齿；第一测量齿、第二测量齿与第三测量齿的形状大小一致，第一测量齿与第三测量齿对齐；以及，于活动环的外圆周侧设置有测量活动环转动距离的测量装置及推动活动环回转的复位机构。进一步地，上定位环与下定位环之间设置有环套，环套与上定位环及下定位环固定，活动环可旋转的设置在环套的内圆中。进一步地，复位机构为沿活动环的外圆周侧设置的两组弹簧，其中一组弹簧位于活动环的一侧，另一组弹簧位于活动环的另一侧，两组弹簧相对的设置形成一对力偶。进一步地，环套的外圆周侧设置有驱动活动环旋转的拨动机构。进一步地，拨动机构包括手柄与拨销；手柄通过销轴铰接在环套的外圆周侧，手柄上开设有卡槽，拨销一端与手柄的卡槽配合，另一端穿过环套与活动环连接。进一步地，测量装置为数显千分表，数显千分表的量头与活动环的外圆周侧相接触。进一步地，下定位环下方设置有垫圈。本技术具有以下有益效果:结构简单，操作方便，不需要操作人员具有很高的测量技能；上定位环、活动环与下定位环采用齿形内圆自身定位，具有自动定心作用，定位与测量精度高。除了上面所描述的目的、特征和优点之外，本技术还有其它的目的、特征和优点。下面将参照图，对本技术作进一步详细的说明。【专利附图】【附图说明】构成本申请的一部分的附图用来提供对本技术的进一步理解，本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术，并不构成对本技术的不当限定。在附图中:图1是本技术外花键齿厚测具优选实施例的结构示意图；图2是图1的A-A剖视图；图3是图1的左视图(省略测量装置)；以及图4是本技术外花键齿厚测具优选实施例的立体结构示意图。附图标记说明:101、上定位环；102、活动环；103、下定位环；104、垫圈；105、手柄；106、拨销；107、数显千分表；108、量头；109、弹簧；110、环套；111、第一测量齿；112、第二测量齿；113、第三测量齿。【具体实施方式】以下结合附图对本技术的实施例进行详细说明，但是本技术可以由权利要求限定和覆盖的多种不同方式实施。请参阅图1至图4，本技术的优选实施例提供了一种外花键齿厚测具，包括:内圆直径一致的上定位环101、活动环102与下定位环103 ;上定位环101、活动环102与下定位环103同心的依次叠加设置。以活动环102的圆心为中心，活动环102可于上定位环101与下定位环103之间转动。沿上定位环101的周向，上定位环101的内圆侧壁设置有第一测量齿111 ;沿活动环102的周向，活动环102的内圆侧壁设置有第二测量齿112 ;沿下定位环103的周向，下定位环103的内圆侧壁设置有第三测量齿113 ;第一测量齿111、第二测量齿112与第三测量齿113的形状大小一致，第一测量齿111与第三测量齿113对齐。以及，于活动环102的外圆周侧设置有测量活动环102转动距离的测量装置及推动活动环102回转的复位机构。对被测零件的作用齿厚进行测量时，先要确定被测零件的作用齿厚允许的误差范围。首先，转动活动环102，使活动环102内圆侧壁的第二测量齿112与上定位环101内圆侧壁的第一测量齿111及下定位环103内圆侧壁的第三测量齿113对齐，并将测量装置的读数清零；然后，将最小作用齿厚标准件(图未示)放入上定位环101、活动环102与下定位环103的内圆中，最小作用齿厚的标准件分别与第一测量齿111、第二测量齿112及第三测量齿113啮合；然后，通过复位机构推动活动环102转动，带动最小作用齿厚标准件转动，使其与第一测量齿111、第二测量齿112与第三测量齿113分别形成紧密贴合，活动环102的旋转位移量通过测量装置量测出。然后，取出最小作用齿厚的标准件，再次转动活动环102，使第二测量齿112与第一测量齿111及第三测量齿113对齐；在测量装置的读数清零后，将最大作用齿厚标准件(图未示)放入上定位环101、活动环102与下定位环103的内圆中，最大作用齿厚标准件分别与第一测量齿111、第二测量齿112及第三测量齿113啮合；然后，通过复位机构推动活动环102转动，带动最大作用齿厚标准件转动，使其与第一测量齿111、第二测量齿112与第三测量齿113分别形成紧密贴合，活动环102的旋转位移量通过测量装置量测出。使用最小作用齿厚标准件时，活动环102的旋转位移量与使用最大作用齿厚标准件时，活动环102的旋转位移量的差值即为被测零件作用齿厚允许的误差范围。确定被测零件作用齿厚允许的误差范围后，即可对被测零件进行测量；首先，转动活动环102，使第二测量齿112与第一测量齿111及第三测量齿113对齐，在测量装置的读数清零后，将被测零件(图未示)放入上定位环101、活动环102与下定位环103的内圆中，被测零件分别与第一测量齿111、第二测量齿112及第三测量齿113啮合，然后，通过复位机构推动活动环102转动，带动被测零件转动，使其与第一测量齿111、第二测量齿112与第三测量齿113分别形成紧密贴合，活动环102的旋转位移量通过测量装置量测出本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种外花键齿厚测具，其特征在于，包括：内圆直径一致的上定位环(101)、活动环(102)与下定位环(103)，所述上定位环(101)、所述活动环(102)与所述下定位环(103)同心的依次叠加设置；以所述活动环(102)的圆心为中心，所述活动环(102)可于所述上定位环(101)与所述下定位环(103)之间转动；沿所述上定位环(101)的周向，所述上定位环(101)的内圆侧壁设置有第一测量齿(111)；沿所述活动环(102)的周向，所述活动环(102)的内圆侧壁设置有第二测量齿(112)；沿所述下定位环(103)的周向，所述下定位环(103)的内圆侧壁设置有第三测量齿(113)；所述第一测量齿(111)、所述第二测量齿(112)与所述第三测量齿(113)的形状大小一致，所述第一测量齿(111)与所述第三测量齿(113)对齐；以及于所述活动环(102)的外圆周侧设置有测量所述活动环(102)转动距离的测量装置及推动所述活动环(102)回转的复位机构。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王力卫，赵聪敏，
申请(专利权)人：中国南方航空工业集团有限公司，
类型：实用新型
国别省市：