【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及测试领域，特别涉及一种供电系统及基于该供电系统的供电方法、一种检测系统及基于该检测系统的检测方法。
技术介绍
现有技术中，往往通过检测系统对待测的各类芯片进行检测，待测芯片(可为基于IP技术的芯片)包括多个供电接口(Power Interface)，检测系统包括可与所述供电接口对位电性连接的电源单元(可以是DSP系统电源)和产生时钟信号、各类检测信号的信号单元(对应信道，Channel)，电源单元与对应供电接口连接以通过所述供电接口对待测芯片供电。在通常情况下，检测系统的电源单元数目与待测芯片的供电接口数目匹配，参考图1，现有技术的一种供电方法，包括：分别将检测系统10的电源单元(DSP1、DSP2、DSP3、DSP4)连接至待测芯片20的对应供电接口(IN1、IN2、IN3、IN4)。但是，这种供电方法具有局限性：检测系统一次仅能对一个待测芯片进行供电。这种检测效率有待改进。检测系统并非与每一类待测芯片匹配，检测系统的电源单元数目与待测芯片的供电接口数目可能不匹配，特别是当电源单元数目少于待测芯片的供电接口数目时，会存在无法供电的问题。基于上述情况，现有技术还有一种供电方法，可参考如图2，包括：将检测系统30的电源单元(DSP1、DSP2、DSP3、DSP4)连接至待测芯片40的对应供电接口(IN1、IN2、IN3、IN4)；将检测系统30的信号单元(CHANNEL1、CHANNE...
【技术保护点】
一种供电系统，其特征在于，包括：第一供电接口、电源单元、继电器单元；所述第一供电接口的数目大于所述电源单元的数目且与所述继电器单元的数目匹配；所述第一供电接口，与待测芯片的第二供电接口对应地电性配合；所述电源单元，适于输出电源信号；所述继电器单元，适于接收所述电源信号和输入的控制信号，所述控制信号包括触发信号；所述继电器单元还适于当所述控制信号为触发信号时，输出所述电源信号至对应第一供电接口。
【技术特征摘要】
1.一种供电系统，其特征在于，包括：第一供电接口、电源单元、继电
器单元；所述第一供电接口的数目大于所述电源单元的数目且与所述继电器
单元的数目匹配；
所述第一供电接口，与待测芯片的第二供电接口对应地电性配合；
所述电源单元，适于输出电源信号；
所述继电器单元，适于接收所述电源信号和输入的控制信号，所述控制
信号包括触发信号；所述继电器单元还适于当所述控制信号为触发信号时，
输出所述电源信号至对应第一供电接口。
2.如权利要求1所述的供电系统，其特征在于，所述继电器单元包括：
第一接口、第二接口、第三接口及第四接口；
所述第一接口连接至对应电源信号；
所述第二接口连接至对应控制信号；
所述第三接口连接至对应第一供电接口；
所述第四接口连接至对地电平。
3.如权利要求1所述的供电系统，其特征在于，所述待测芯片有N个，
每个待测芯片中第二供电接口的数目为M个，所述电源单元的数目为M个，
其输入的控制信号的数目为N个，所述继电器单元的数目为N×M个，所述
第一供电接口的数目为N×M个;
对于对应第n个待测芯片的第[(n-1)×M+1]至第n×M个继电器单元：第
[(n-1)×M+m]个继电器单元的第一接口连接至第m个电源单元输出的电源信
号，第二接口连接至第n个控制信号，第三接口连接至第[(n-1)×M+m]个第一
供电接口；
其中，N、M、n、m分别为正整数，且N大于1，n取1至N任一数值，
m取1至M任一数值。
4.如权利要求1所述的供电系统，其特征在于，还包括：控制单元；
所述控制单元，适于提供所述控制信号；所述控制单元的数目与所述待
\t测芯片的数目匹配。
5.一种供电方法，基于如权利要求1至4任一项所述的供电系统，其特
征在于，包括：
提供所述电源信号；
连接第一供电接口及与其电性配合的第二供电接口，以接入至少一个待
测芯片；
设置继电器单元对应的控制信号为触发信号，所设置的继电器单元对应
所接入的待测芯片，以使所接入的待测芯片接通所述电源信号。
6.一种检测系统，其特征在于，包括：第一供电接口、第一检测接口、
电源通道、信号通道、继电器单元及检测单元；所述第一供电接口的数目大<...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨其燕，
申请(专利权)人：上海华虹宏力半导体制造有限公司，
类型：发明
国别省市：
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