用于承载待测试电子装置的治具制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种用于承载待测试电子装置的治具，包括托盘，托盘设置有用于容纳待测试电子装置的收容腔，还包括两个夹持件、一拨动件、一插头组件和一导电接触组件；托盘中还设置有一第一滑槽，第一滑槽和该收容腔通过一突出壁相分隔，突出壁设置有与第一滑槽和该收容腔相连通的两个通孔以及第二滑槽，第二滑槽位于该两个通孔之间，两个夹持件分别滑动地收容在该两个通孔中，拨动件滑动地收容于该第一滑槽中，拨动件在该第一滑槽中滑动时能够推动两个夹持件滑动，夹持件用于卡住待测试电子装置而使该待测试电子装置无法移动；导电接触组件位于托盘的末端，导电接触组件包括多个导电片，每个导电片与该插头的一导电端子相连接。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种承载待测试电子装置的治具。
技术介绍
许多电子装置，例如手机、平板电脑、笔记本电脑，在生产过程中需要进行多道工序的测试，因此，需要针对不同的测试设置相应的用以承载电子装置的治具。例如，在电子装置组装完成后，需要将电子装置电连接到一测试装置，该测试装置向该电子装置发送测试信号以测试电子装置的软件和硬件。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供一种承载待测试电子装置的治具，其能够将电子装置电连接到一测试装置。一种用于承载待测试电子装置的治具，包括托盘，该托盘设置有收容腔，该收容腔用于容纳该待测试电子装置，还包括两个夹持件、一拨动件、一插头组件和一导电接触组件；该托盘中还设置有一第一滑槽，该第一滑槽和该收容腔通过一突出壁相分隔，该突出壁设置有与该第一滑槽和该收容腔相连通的两个通孔以及第二滑槽，该第二滑槽位于该两个通孔之间，该托盘的末端设置有与第一滑槽相连通的容置腔；该两个夹持件分别滑动地收容在该两个通孔中，该拨动件滑动地收容于该第一滑槽中，该拨动件在该第一滑槽中滑动时能够推动该两个夹持件在该两个通孔中滑动，该夹持件用于卡住该待测试电子装置而使该待测试电子装置无法移动；该导电接触组件收容在该容置腔中，该导电接触组件包括多个导电片，每个导电片与该插头的一导电端子相连接，该导电接触组件的多个导电片用于与一测试装置的探针接触，从而将该待测试电子装置电连接到该测试装置，使得该待测试电子装置能够接收到测试装置的测试信号。使用本专利技术的治具，能够将电子装置电连接到一测试装置，从而允许该测试装置向该电子装置发送测试信号以测试电子装置的软件和硬件。附图说明图1为本专利技术的治具承载待测试电子装置的立体图。图2为本专利技术的治具的立体图，其示意出一夹持件由图1所示的锁紧位置移动至一解锁位置。图3为本专利技术的治具的分解图。图4为本专利技术的治具的插头组件和导电接触组件的分解图。图5为本专利技术的治具的插头组件和导电接触组件的另一角度的分解图。主要元件符号说明治具100电子装置200托盘10收容腔11第一滑槽12侧壁121凹槽122顶部123开口124底部125通孔126突出壁13通孔131凸出部14第二滑槽15导向肋16容置腔17通孔171夹持件20滑块21凸出部22收容槽23平面231、233斜面232拨动件30凸块31本体32弯折部33推动柱34插头组件40插头41主体411导电端子部分412承载部42容纳腔421止挡部422、423伸出部424盖板43容纳腔431伸出部432导向槽44导电接触组件50导电片51顶部511底部512隔离部513导电片承载部52卡槽521卡块522导电片固定部53盖板60通孔61连接部70收容腔71限位部72如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本专利技术。具体实施方式请参照图1和图2，一种用于承载待测试电子装置200的治具100包括托盘10、两个夹持件20和拨动件30。该托盘10设置有与电子装置200的轮廓相适应的收容腔11，该电子装置200能恰好收容在该收容腔11中。请同时参考图3，该治具100还包括该插头组件40、导电接触组件50及盖板60。在本实施方式中，该拨动件30可滑动地收容于该托盘10的一第一滑槽12中。该第一滑槽12与该收容腔11通过突出壁13相分隔，该突出壁13设置有与第一滑槽12和收容腔11相连通的两个通孔131，该通孔131用于可滑动地收容该两个夹持件20。该插头组件40位于该两个夹持件20之间，其可滑动地收容在突出壁13上位于两个通孔131之间的第二滑槽15中。该导电接触组件50收容在设置于托盘10末端且与收容腔11相连通的容置腔17中。该夹持件20能够沿着图1和图2中的X方向在通孔131中相对托盘10滑动，该夹持件20能够卡住该电子装置200而使之无法移动。该拨动件30能够沿着图1和图2中的与X方向垂直的Y方向在第一滑槽12中相对托盘10滑动，该拨动件30用于推动该夹持件20滑动。该插头组件40包括插头41，该导电接触组件50包括多个导电片51，每个导电片51通过导线（未示出）与插头41的一个导电端子（未示出）相连接。在本实施方式中，该插头组件40和导电接触组件50均能沿着图1和图2中的X方向相对托盘10滑动。该盖板60上设置有与该多个导电片51相对应的通孔61。使用时，首先将待测试电子装置200放置在该收容腔11中，并拨动该拨动件30使该夹持件20卡住该电子装置200，然后推动该插头组件40，使插头41的导电端子部分插入电子装置200的插槽中。此后，将治具100放置到测试装置（未示出）上，测试装置的探针穿过该盖板60上的通孔61与导电片51相接触，从而将测试装置与该待测试电子装置200电连接。该测试装置可以通过读取待测试电子装置200中的数据或者向待测试电子装置200写入数据对待测试电子装置200进行测试。测试完成后，滑动该插头组件40使插头41的导电端子部分脱离电子装置200，然后拨动该拨动件30使夹持件20不再卡持该电子装置200，此时，可以将该电子装置200从收容腔11中取出。下文将对治具100的具体结构进行详细描述。如图3所示，在本实施方式中，该第一滑槽12的一侧壁121设置有凹槽122，该凹槽122的顶部123设置有开口124。该拨动件30的一侧设置有凸块31，该凸块31收容在该凹槽122中，并与其顶部123相抵触。由于该凸块31受到该顶部123的抵触，该拨动件30无法脱离该第一滑槽12。需要将拨动件30拆下时，滑动该拨动件30直至该凸块31移动至该开口124的位置，该凸块31不再受到该顶部123的限制，从而允许从该第一滑槽12中取出该拨动件30。在本实施方式中，每个夹持件20包括滑块21和自滑块21的末端伸出的凸出部22。该每一滑块21滑动地收容在该托盘10的突出壁13的通孔131中，并且能够沿着图1和图2中的X方向相对托盘10滑动。该托盘10的一端向内伸出两个凸出部14（图1可见）。当该夹持件20滑动至如图1所示的锁定位置时，该凸出部22及凸出部14勾住该电子装置200的上表面，从而能够将电子装置200定位在该收容腔11中而无法移动。如图3所示，在本实施方式中，该拨动件30还包括本体32及自本体32的两端向外伸出的弯折部33。该本体32收容在该第一滑槽12的底部125上的通孔126中，该拨动件30滑动至本体32的末端与通孔126的一端接触的位置时，该拨动件30无法继续向前滑动。该弯折部33与该底部125相对的表面上形成有推动柱34，该夹持件20的滑块21上设置有收容槽23，该推动柱34收容在该收容槽23中。在本实施方式中，该收容槽23的相对的两侧壁均包括平面231、平面233以及连接平面231和233的斜面232。该平面231和233与图1和图2中的Y方向大致平行。因此，当推动柱34跟随拨动件30移动从收容槽23的一端移动至另一端过程中，该推动柱34会接触到该两个斜面232中的一个，从而使得该夹持件20受到该推动柱34的推动而滑动。该夹持件20因此能够在图1所示的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于承载待测试电子装置的治具，包括托盘，该托盘设置有收容腔，该收容腔用于容纳该待测试电子装置，其特征在于，还包括两个夹持件、一拨动件、一插头组件和一导电接触组件；
该托盘中还设置有一第一滑槽，该第一滑槽和该收容腔通过一突出壁相分隔，该突出壁设置有与该第一滑槽和该收容腔相连通的两个通孔以及第二滑槽，该第二滑槽位于该两个通孔之间，该托盘的末端设置有与第一滑槽及第二滑槽相连通的容置腔；
该两个夹持件分别滑动地收容在该两个通孔中，该拨动件滑动地收容于该第一滑槽中，该拨动件在该第一滑槽中滑动时能够推动该两个夹持件在该两个通孔中滑动，该夹持件用于卡住该待测试电子装置而将该待测试电子装置固定在该收容腔中，该插头组件滑动地收容在该第二滑槽中；
该导电接触组件收容在该容置腔中，该导电接触组件包括多个导电片，每个导电片与该插头的一导电端子相连接，该导电接触组件的多个导电片用于与一测试装置的探针接触，从而将该待测试电子装置电连接到该测试装置，使得该待测试电子装置能够接收到测试装置的测试信号。
2.如权利要求1所述的用于承载待测试电子装置的治具，其特征在于，该夹持件和插头组件的滑动方向相同。
3.如权利要求1所述的用于承载待测试电子装置...

【专利技术属性】
技术研发人员：吕理清，向健华，
申请(专利权)人：富泰华工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：