用于确定上电复位的方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供了一种用于确定上电复位的方法和装置。所述方法应用于一具有内存的电子设备，该内存包括校验区域，该校验区域用于存放在非上电复位中不丢失的校验基准和校验变量。所述方法包括：当所述电子设备中发生复位时，读取所述校验区域中的校验变量和校验基准，对所述校验变量执行校验计算，而得到计算结果；比较所述计算结果和所述校验基准，根据所述计算结果来确定所述电子设备的复位类型是否是上电复位；以及当确定是上电复位，向所述校验区域中重新写入所述校验变量和所述校验基准，以用于下一次的复位类型确定。所述用于确定上电复位的方法和装置能够在不增加其它硬件器件的基础上进行简单、有效、可靠的上电复位类型判断。

【技术实现步骤摘要】
用于确定上电复位的方法和装置
本专利技术实施例涉及电子技术的领域，并且更具体地，涉及一种用于确定电子设备的上电复位类型的方法和装置。
技术介绍
随着电子技术的发展，采用各种不同的电子设备来实现各种不同的功能，所述电子设备例如为微控制单元(MicroControlUnit)、数字信号处理器(DigitalSignalProcessing)、中央处理单元(CentralProcessingUnit)等电子模块。在所述电子设备的使用过程中，需要进行各种类型的复位，诸如上电复位、硬件复位、软件复位、狗复位等。针对各种不同的复位类型，需要进行不同的配置，因此要求在电子设备复位时能够确定出相应的复位类型。对于所述复位类型中的上电复位的确定，目前主要有以下两种方式：一是利用复位寄存器来确定上电复位和非上电复位；另一种是借助可编程逻辑器件确定上电复位和非上电复位。在利用复位寄存器来确定电子设备的上电复位和非上电复位的情况中，只能利用复位寄存器确定是否是软件复位。在确定复位类型不是软件复位时，复位寄存器不能确定是硬件复位还是上电复位，导致无法区分开硬件复位和上电复位借助可编程逻辑器件确定上电复位和非上电复位的过程如下，使能可编程逻辑器件的寄存器上电复位可预置功能，从而在上电复位以后，对应寄存器的复位值被预置为A；对可编程逻辑器件进行编程，将寄存器的复位值设置为不同于A的B，系统启动以后，读取对应寄存器的值，如果为A，则判断为上电复位，否则判断为带电复位。在利用可编程逻辑器件确定上电复位和非上电复位的情况中，可编程逻辑器件的体积较大，对于一些小型器件，增加一个庞大的可编程逻辑器件是不可接受的，且该方案依赖于上电后的可编程逻辑器件的预置功能。鉴于此，本专利技术期望在不借助其它器件的条件下来简单且可靠地确定是否是上电复位。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种用于确定电子设备的上电复位类型的方法和装置，其能够在不增加其它硬件器件的基础上进行简单、有效、可靠的上电复位类型判断。第一方面，提供了一种确定复位类型的方法，其特征在于，该方法应用于一具有内存的电子设备，该内存包括校验区域，该校验区域用于存放在非上电复位中不丢失的校验基准和校验变量，所述校验基准是通过对所述校验变量执行校验计算而获得的，所述方法包括：当所述电子设备中发生复位时，读取所述校验区域中的校验变量和校验基准，对所述校验变量执行所述校验计算，而得到计算结果；比较所述计算结果和所述校验基准，当所述计算结果不等于所述校验基准时，确定所述电子设备的复位类型是上电复位，当所述计算结果等于所述校验基准时，确定所述电子设备的复位类型是非上电复位；以及当确定所述电子设备的复位类型是上电复位，向所述校验区域中重新写入所述校验变量和所述校验基准，以用于下一次的复位类型确定。结合第一方面，在第一方面的一种实现方式中，所述对所述校验变量执行所述校验计算包括：对所述校验变量中的各个校验变量执行异或减一的计算。结合第一方面及其上述实现方式，在第一方面的另一实现方式中，通过增加所述校验变量的数目来提高复位类型的确定准确度。结合第一方面及其上述实现方式，在第一方面的另一实现方式中，所述电子设备还包括复位寄存器，所述方法还包括：当所述电子设备中发生复位时，利用所述复位寄存器来确定电子设备的复位类型是否是软件复位；在确定所述复位类型不是软件复位的情况下，执行所述读取、校验计算和确定操作以确定所述复位类型是上电复位还是非上电复位。结合第一方面及其上述实现方式，在第一方面的另一实现方式中，所述电子设备还包括心跳寄存器，当确定所述复位类型是非上电复位时，所述方法还包括：利用所述心跳寄存器来确定所述电子设备的复位类型是上电复位还是非上电复位。结合第一方面及其上述实现方式，在第一方面的另一实现方式中，所述内存是电子设备中的内存或与所述电子设备连接的内存。第二方面，提供了一种电子设备，其特征在于，包括：内存，包括校验区域，该校验区域用于存放在非上电复位中不丢失的校验基准和校验变量，所述校验基准是通过对所述校验变量执行校验计算而获得的；复位类型确定模块。该复位类型确定模块包括：计算单元，用于在所述电子设备中发生复位时，读取所述校验区域中的所述校验变量和校验基准，对所述校验变量的数据值执行所述校验计算，而得到计算结果；第一确定单元，用于比较所述计算结果和所述校验基准，在所述计算结果不等于所述校验基准时、确定所述电子设备的复位类型是上电复位，在所述计算结果等于所述校验基准时、确定所述电子设备的复位类型是非上电复位；赋值单元，用于在确定所述电子设备的复位类型是上电复位，向所述校验区域中重新写入所述校验变量和所述校验基准，以用于下一次的复位类型确定。结合第二方面，在第二方面的一种实现方式中，所述计算单元可通过对所述校验变量中的各个校验变量执行异或减一的计算来执行所述校验计算。结合第二方面及其上述实现方式，在第二方面的另一实现方式中，所述计算单元可通过增加所述校验变量的数目来提高复位类型的确定准确度。结合第二方面及其上述实现方式，在第二方面的另一实现方式中，所述电子设备还可以包括复位寄存器，所述复位类型确定模块还可包括：第二确定单元，用于利用所述复位寄存器来确定电子设备的复位类型是否是软件复位；其中，在第二确定单元确定所述复位类型不是软件复位的情况下，所述计算单元和所述第一确定单元进行操作以确定所述电子设备的复位类型是上电复位还是非上电复位。结合第二方面及其上述实现方式，在第二方面的另一实现方式中，所述电子设备还可包括心跳寄存器，所述复位类型确定模块还可包括：第三确定单元，用于当第一确定单元确定所述复位类型是非上电复位时，利用所述心跳寄存器来确定所述电子设备的复位类型是上电复位还是非上电复位。结合第二方面及其上述实现方式，在第二方面的另一实现方式中，所述内存是位于电子设备中的内存或与所述电子设备连接的内存。本专利技术实施例可以利用从内存中选择的特定数目字节作为校验区域来进行上电复位的确定，从而在不增加其它硬件器件的基础上进行简单、有效、可靠的上电复位类型判断。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是根据本专利技术实施例的校验区域的示意性图示；图2是示出了根据本专利技术实施例的用于确定上电复位的方法的流程图；图3示意性示出了用于实现根据本专利技术实施例的用于确定上电复位的方法的程序；图4是示出了根据本专利技术另一实施例的用于确定上电复位的方法的流程图；图5是示出了根据本专利技术实施例的用于确定上电复位的装置的框图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。下面简要说明本专利技术实施例的原理。电子设备的内存中的值在诸如硬件复位、软件复位之类的非上电复位中会保存，但是如果电子设备掉电，则该内存中的值会丢失。在电子设备重本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种确定复位类型的方法，其特征在于，该方法应用于一具有内存的电子设备，该内存包括校验区域，该校验区域用于存放在非上电复位中不丢失的校验基准和校验变量，所述校验基准是通过对所述校验变量执行校验计算而获得的，所述方法包括：当所述电子设备中发生复位时，读取所述校验区域中的校验变量和校验基准，对所述校验变量执行所述校验计算，而得到计算结果；比较所述计算结果和所述校验基准，当所述计算结果不等于所述校验基准时，确定所述电子设备的复位类型是上电复位，当所述计算结果等于所述校验基准时，确定所述电子设备的复位类型是非上电复位；以及当确定所述电子设备的复位类型是上电复位，向所述校验区域中重新写入所述校验变量和所述校验基准，以用于下一次的复位类型确定。2.根据权利要求1的方法，其特征在于，所述对所述校验变量执行所述校验计算包括：对所述校验变量中的各个校验变量执行异或减一的计算。3.根据权利要求2的方法，其特征在于，通过增加所述校验变量的数目来提高复位类型的确定准确度。4.根据权利要求1的方法，其特征在于，所述电子设备还包括复位寄存器，所述方法还包括：当所述电子设备中发生复位时，利用所述复位寄存器来确定电子设备的复位类型是否是软件复位；在确定所述复位类型不是软件复位的情况下，执行所述读取、校验计算和确定操作以确定所述复位类型是上电复位还是非上电复位。5.根据权利要求1的方法，其特征在于，所述电子设备还包括心跳寄存器，当确定所述复位类型是非上电复位时，所述方法还包括：利用所述心跳寄存器来确定所述电子设备的复位类型是上电复位还是非上电复位。6.根据权利要求1的方法，其特征在于，所述内存是电子设备中的内存或与所述电子设备连接的内存。7.一种电子设备，其特征在于，包括：内存，包括校验区域，该校验区...

【专利技术属性】
技术研发人员：夏述堰，谢良，吴艳琴，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：