本发明涉及一种图像测量设备和计算机可读介质。所述图像测量设备对待测对象进行摄像，并且基于显示在触敏面板显示器上的所述待测对象的图像来测量所述待测对象的尺寸和形状。所述图像测量设备包括：控制器，用于从响应于针对所述触敏面板显示器触摸输入的...

本发明提供测量用X射线CT装置及其校正方法。测量用X射线CT装置一边使配置在旋转台上的被检体(8)旋转一边照射X射线(13)，对所得的投影图像进行重构来得到被检体的断层图像，该测量用X射线CT装置具备：X射线波动校正治具，其配置在X射线...

本发明提供测量用X射线CT装置及其防干扰方法。测量用X射线CT装置一边使配置在旋转台上的被检体旋转一边照射X射线，对投影图像进行重构来得到被检体的断层图像，该测量用X射线CT装置具备：摄像单元，其对所述旋转台上的被检体从上方或侧方进行拍...

本发明提供测针制造方法。该测针制造方法用于制造接触式测头的测针(1)，该测针具有棒状的主体(2)、与主体的顶端连续且直径比主体的直径小的杆(3)以及与杆的顶端连续且直径比杆的直径大的触头(4)。该方法包括以下的工序：一次放电加工工序，在...

测量装置S包括：光源1，其发射光；标尺4，其具有多个轨道，所述多个轨道的图案彼此不同，所述多个轨道使由光源1发射的光的至少一部分通过；光接收部件51，其具有多个光接收元件，每个光接收元件输出与通过所述轨道接收的光强度对应的光信号；信号生...

本发明提供3D形状的自动跟踪方法和测量机。在第一过程中，将操作者最初设定的一处基准视场设为原点来进行编号。在第二过程中，在对与基准视场相邻的场所进行编号之后，将测量范围依次自动移动到被编号后的位置并在该位置执行测量来确认形状数据的存在，...

本发明涉及一种用于测量物体的表面的高度图的方法、系统和数据载体。在用于测量物体的表面的高度图的方法和系统中，执行以下步骤。使用具有覆盖个体分区的视场即FOV的光学轮廓仪来测量物体的表面的不同分区的高度图，其中该高度图包括高度数据。将测量...

本发明涉及位置指定方法以及存储介质。通过以下步骤进行指定：获取开始探测到对触摸面板显示器的接触位置时的初始接触位置；在与初始接触位置相应的位置显示位置显示光标；在接触位置到达距初始接触位置规定距离的位置前，在持续探测到接触位置的期间在与...

本发明提供透镜测量装置及透镜测量方法。透镜测量装置(1)包括：工作台(20)，其能够绕旋转轴线(Cr)旋转；透镜保持件(50)，其用于保持作为测量对象的透镜(L)，并能够以透镜(L)的光轴与旋转轴线(Cr)正交的方式载置于工作台(20)...

一种标尺，包括：基板；形成在基板上的第一金属层；形成在第一金属层上的第二金属层；以及刻度光栅，其形成在第二金属层上并具有预定间隔的多个金属光栅，其中，所述第一金属层由第一金属制成，其中，所述第二金属层由第二金属制成，其中，所述第一金属与...

一种标尺，包括：基板；标尺光栅，形成在基板的一面上且具有以预定间隔设置的多个金属光栅；和无机透明构件，设置在多个金属光栅之间，其中基板的所述面的至少一个表面用金属制造，且其中标尺光栅和无机透明构件露出到大气。

第一位置测量装置(“FPMD”)配置为控制和操作独立装置操作模式和组合装置操作模式两者。在组合装置操作模式期间，FPMD输入经由装置间通信连接通过第二位置测量装置(“SPMD”)提供的第二装置测量采样输出。FPMD和SPMD在工件测量布...

一种刻度尺包括：基板；刻度光栅，其形成在基板的面上并具有预定间隔的多个光栅；以及保护层，其由氟化物制成并覆盖刻度光栅和基板的面的暴露部分。

本发明涉及包括聚焦状态参考子系统的可变焦距透镜系统。一种包括聚焦状态参考对象(FSRO)和参考对象光学器件(ROO)的聚焦状态参考子系统用于在可变焦距(VFL)透镜系统中使用，该系统包括VFL透镜，调节其光功率的控制器，以及沿包括物镜和...

本发明提供一种将压头按压于材料表面来评价材料特性的测量装置，其中，该测量装置紧凑且能够利用弹簧的变形来高精度地控制大范围的力。测量装置(100)利用变形量越大弹簧常数越大的非线性弹簧(104)所产生的负荷将压头(105)按压于材料表面来...

提供了一种用于提供位移信号的抗污染和缺陷的旋转光学编码器构造，其包括旋转标尺、照明源和光检测器构造。照明源构造为在第一照明区域处将准直光输出到标尺，该光随后在第二照明区域处输出至标尺，标尺从该第二照明区域输出形成检测器条纹图案的标尺光，...

本发明提供一种空间精度校正方法和设备。该空间精度校正设备使用利用干涉仪测量的可测量长度值和利用用于将移动器移动到预定的一组空间坐标的定位器测量的移动体的一组空间坐标的可测量值来进行该定位器的空间精度校正。通过将移动体按顺序移动到多个测量...

一种电子位置编码器，包括刻度、检测器和信号处理配置，所述刻度包括具有相应的信号调制刻度图案的第一和第二图案轨道。检测器包括第一轨道和第二轨道场生成线圈部分，其分别围绕与第一图案轨道和第二图案轨道对齐的第一和第二内部区域。第一轨道和第二轨...

一种间距补偿感应式位置编码器，包括刻度、检测器和信号处理部，所述刻度包括具有波长为W的周期性图案的第一轨道和第二轨道。第二轨道图案可沿测量方向相对于第一轨道图案以图案偏移量STO偏移。在所述检测器中，第一轨道场生成线圈部分和第二轨道场生...

本发明提供一种空间精度校正方法和设备。该方法通过使用由激光干涉仪测量的可测量长度值和由定位机构测量的空间坐标的测量值来校正定位机构中的定位误差。该方法包括：测量步骤，其中将固定到移位器的后向反射器移动到多个测量点，并且获取各测量点处的测...