本发明公开了一种连续式集成电路测试系统及其测试方法，涉及集成电路测试系统技术领域，包括测试设备控制模块、测试软件模块、自动化控制系统模块和决策反馈模块，所述测试设备控制模块用于控制测试设备与IC自动适配，确保一致性和可重复性的测试，所述...