一种连续式集成电路测试系统及其测试方法技术方案

本发明专利技术公开了一种连续式集成电路测试系统及其测试方法，涉及集成电路测试系统技术领域，包括测试设备控制模块、测试软件模块、自动化控制系统模块和决策反馈模块，所述测试设备控制模块用于控制测试设备与IC自动适配，确保一致性和可重复性的测试，所述测试软件模块用于调用测试软件对IC测试和采集测试数据生成测试报告，所述自动化控制系统模块用于调度执行测试计划并对测试进度进行实时监控，所述决策反馈模块用于对测试数据进行IC缺陷追踪和优化设计反馈。本发明专利技术通过设计有测试设备控制模块，实现了对IC测试的自动化设备连接，确保了IC与测试设备正确连接，提供稳定的电气连接，解决了人工装配连接出现连接错误的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及集成电路测试系统，具体为一种连续式集成电路测试系统及其测试方法。

技术介绍

1、连续式集成电路测试系统是一种用于测试集成电路(ic)的高效、自动化系统。它旨在确保ic的质量和稳定性，减少故障率，并提高生产效率。

2、1、专利文件us07676715b2公开了一种具有连续测试重复功能块的集成电路，实现了在正常操作期间可以通过在所选块和测试块之间传送状态信息来一次测试多个块，但上述专利不能实现对ic测试的自动化设备连接功能。

3、2、专利文件kr1020150064385a公开了一种集成电路测试设备和系统，实现了通过包括集成电路监视单元和无线通信单元来监视单个集成电路的功耗和操作状态，但上述专利不能实现对ic测试的智能化管控。

4、3、专利文件cn116359709a公开了一种集成电路产品测试系统，实现了对异常集成电路产品的工作状态进行确认，对后续是否会影响正常使用进行判定，提升判定结果的精准度，但上述专利不能实现对ic测试的连续性测试协调功能。

5、4、专利文件cn115808611a公开了一种集本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种连续式集成电路测试系统，其特征在于：包括测试设备控制模块、测试软件模块、自动化控制系统模块和决策反馈模块；

2.根据权利要求1所述的一种连续式集成电路测试系统，其特征在于：所述测试设备控制模块包括：测试座位控制单元、探针卡控制单元和测试仪器控制单元；

3.根据权利要求1所述的一种连续式集成电路测试系统，其特征在于：所述测试软件模块包括：测试计划管理单元、测试用例管理单元、测试数据采集单元、数据分析处理单元和报告生成单元；

4.根据权利要求1所述的一种连续式集成电路测试系统，其特征在于：所述自动化控制系统模块包括：测试计划调度单元、测试用例执行控...

【技术特征摘要】

1.一种连续式集成电路测试系统，其特征在于：包括测试设备控制模块、测试软件模块、自动化控制系统模块和决策反馈模块；

2.根据权利要求1所述的一种连续式集成电路测试系统，其特征在于：所述测试设备控制模块包括：测试座位控制单元、探针卡控制单元和测试仪器控制单元；

3.根据权利要求1所述的一种连续式集成电路测试系统，其特征在于：所述测试软件模块包括：测试计划管理单元、测试用例管理单元、测试数据采集单元、数据分析处理单元和报告生成单元；

4.根据权利要求1所述的一种连续式集成电路测试系统，其特征在于：所述自动化控制系统模块包括：测试计划调度单元、测试用例执行控制单元和测试进度监控单元；

5.根据权利要求1所述的一种连续式集成电路测试系统，其特征在于：所述决策反馈模块包括：缺陷追踪管理单元和自动化决策支持单元；

6.根据权利要求1所述的一种连续式集成电路测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：曾辉，罗航，
申请(专利权)人：张家港莱荟科技有限公司，
类型：发明
国别省市：