伊斯梅卡半导体控股公司专利技术

伊斯梅卡半导体控股公司共有42项专利

  • 根据本发明,提供了一种组件,该组件包括:至少第一和第二晶片保持器,所述第一和第二晶片保持器中的每一个能够保持包括半导体部件的晶片;载体,所述载体能够选择性操作以承载所述晶片保持器中的一个以移动所述晶片保持器;拾取站,其中,所述拾取站包括...
  • 根据本发明,提供了一种处理组件的方法,包括以下步骤:旋转转台“n”数量的迭代,使得包括“n”数量的组件处理头的组件处理头的第一子集定位在相应的“n”数量的站上,每个组件处理头承载相应的组件,而无需在任何所述“n”次转台迭代之间将保持在第...
  • 一种用于选择性地附接到可旋转转台的模块,包括:臂,其包括能够固定到可旋转转台的第一端部和第二自由端部;尖端保持器,其构造成使得它能够保持尖端构件,其中,所述尖端构件是管状的,并且其中,尖端保持器还包括能够流体连接到真空发生器的入口,其中...
  • 根据本发明,提供了一种部件搬运组件,该组件包括:传送系统,其包括轨道和多个梭子,其中,所述梭子中的每个可沿着轨道单独地且彼此独立地被驱动;并且其中,所述梭子中的每个包括可保持部件的拾取头;位于轨道附近的多个工位,所述多个工位包括:拾取工...
  • 测试晶体管部件的方法,所述方法包括以下步骤:(a)捕获待被定位到套座中用于测试的晶体管部件的第一图像;(b)从第一图像识别晶体管部件的源极和栅极的位置;(c)使用可旋转转台上的部件处理头保持晶体管部件,(d)使用对准装置,以使晶体管部件...
  • 根据本发明,提供了一种使用组件来检查部件(10)的方法,该组件包括:相机(3),其具有固定位置;以及可移动载物台(5),其中,该可移动载物台被构造成使得其可以围绕旋转轴线(7)旋转并且可以沿两条线性轴线(9a、9b)线性地移动,其中,所...
  • 根据本发明提供了处理载件上的部件的方法,该方法包括以下步骤:提供其上支撑有多个部件的载件;测试多个部件以识别良好部件和劣质部件,其中,良好部件是成功通过测试的那些部件并且劣质部件是未通过测试的那些部件;限定从载件待拾取的第一良好部件;将...
  • 用于操纵构件的组件及方法
    根据本发明,提供了操纵构件的方法,该方法包括以下步骤:(a)使用对准器件将构件对准到预定定向;(b)将构件放置到位于装载区域中的船形物上的预定位置上;(c)利用第一相机在构件放置在船形物上之后采集构件的第一图像;(d)使用第一图像来识别...
  • 构件装卸组件及调整构件装卸组件的方法
    根据本发明,提供了一种用于调整构件装卸组件的方法,构件装卸组件包括:多个站点,其中的至少一些具有可收纳构件的座;以及具有多个构件装卸头的可旋转的台,以及其中台可旋转来在多个站点之间输送构件,该方法包括以下步骤:使用位于可旋转的台上的相机...
  • 用于碗状供给器的可移除壁区段
    根据本发明,提供了一种被优化以便用于从碗状供给器(1)供给具有预定特征的部件的碗状供给器区段(20a;20b)。还提供了一种碗状供给器区部件,碗状供给器区段可以可移除地附接到所述碗状供给器部件。当碗状供给器区段可移除地附接到碗状供给器部...
  • 用于处理构件的组件和方法
    根据本发明,提供了一种用于处理构件的方法,所述方法包括:使用视觉对准系统将构件对准成相对于载体的一个预定方向;将经对准的构件放置于所述载体上;使用向下看的相机获得载体上的所述构件的图像,并且使用所述图像来确定构件是否正确位于所述载体上;...
  • 一种用于测量电子部件(3)的光特性的测试装置(1),所述测试装置(1)包括,在一端处的入口(5),电子部件(3)能够呈于所述入口处以便测试;位于入口处的开闭器(7),其中,所述开闭器(7)配置为能够在第一打开位置与第二关闭位置之间运动,...
  • 用于处理电子部件的装置(1),包含:用于处理电子部件的多个处理站(3),至少一些处理站包含电致动器(8);诸如转动架的传送器(2),用于将部件从一个处理站传输到下一个处理站;用于向所述处理站发命令的中央处理单元(5);其中至少一些处理站...
  • 用于限制在电子部件的夹具上由线性促动器施加的力的力限制装置(1),包括:第一元件(4、7、40、41),其布置为以便附接至所述促动器,以便通过所述促动器而线性地可移动;第二元件(5、6、23、50),其布置为以便连接至所述夹具,以便线性...
  • 根据本发明,提供一种用于测试部件的性能的组件,该组件包括:可转动转台,其包括多个部件装卸头,部件装卸头中的每一个可以保持部件;可旋转头组件,该可旋转头组件包括可旋转头,其中可旋转头包括一个或多个嵌套,嵌套中的每一个具有电接触件,并且嵌套...
  • 一种座(1),包括固定部分(3)和可动部分(5),其中固定部分(3)和可动部分(5)构造成协作,以便限定可收纳电气构件(25)的至少一部分的凹穴(7),其中可动部分(5)能够在第一位置与第二位置之间移动,其中在第一位置中,凹穴(7)开启...
  • 根据本发明,提供了一种用以拣选部件的设备,所述设备包括:输送器,其被构造成从转塔接收部件;两个或更多个箱,其沿输送器定位,其中所述两个或更多个箱彼此独立;移位装置,其被构造成使得它能操作用来将部件从输送器移位;控制器,其可被布置成与用于...
  • 根据本发明,提供了一种部件操纵组件,其包括:转位工作台,其包括一个或多个座部,一个或多个座部中的每一个均构造为与部件协作,以在转位工作台转位时保持部件,其中一个或多个座部构造为使得与座部协作的部件支承在座部上方,以便一个或多个座部可与各...
  • 根据本发明,提供了一种夹持测试接触工具,其适于夹持部件,使得部件在被处理的同时保持在固定位置,该夹具包括第一指状部和第二指状部,第一指状部可枢转地安装在第一枢轴点处,并且第二指状部可枢转地安装在第二枢轴点处,使得第一指状部和第二指状部可...
  • 根据本发明,提供了一种适合于当检查部件(5)是否有缺陷(35)时使用的检查装置(1),检查装置(1)包括:串光源(9、17、19、21),其布置成两个或更多的组光源(11a、lib、11c、lid),其中串光源被配置使得每个组光源(11...