本发明涉及芯片质量评估技术领域，尤其涉及一种存储芯片的质量评估方法。所述方法包括以下步骤：获取芯片负载需求数据；根据芯片负载需求数据对存储芯片进行立方体负载模拟，从而获取芯片负载模拟数据；对芯片负载模拟数据进行电压响应高频监测，从而获取...