本发明涉及电子元件图像特征检测的技术领域，具体涉及一种基于图像识别的电子元件缺陷检测方法及系统。获取电子元件图像并将其均匀分割为多个矩形区域。选取参考区域，根据其像素邻域灰度差异计算信息量描述子。以此对所有区域聚类并筛选出特征区域。结合...