本公开实施例提供的自动测试装置，涉及集成电路测试技术领域。该自动测试装置包括烘箱、设置于烘箱内的放料台、以及探测装置；探测装置包括探杆、设置于探杆上的探测器、以及驱动探杆移动的驱动装置；烘箱上设置有第一通孔，探杆通过驱动装置驱动使得探杆...

本公开实施例提供的用于测试电子元件或集成电路的烘箱及自动测试装置，涉及集成电路测试技术领域。该用于测试电子元件或集成电路的烘箱包括机壳、探测装置、以及设置于所述机壳内的放料台；所述探测装置包括探杆和设置于所述探杆上的探测器；所述机壳上设...

本公开实施例提供的烘箱的挡板装置及自动测试装置，涉及集成电路测试技术领域。该烘箱的挡板装置包括主动板、设置在所述主动板上的若干从动板、驱动所述主动板向第一方向移动的驱动器、以及控制所述从动板向第二方向移动的导向结构；所述主动板上设置有若...

本公开实施例提供的自动测试装置，涉及集成电路测试技术领域。该自动测试装置包括烘箱、设置于烘箱内的放料台、以及探测装置；探测装置包括探杆、设置于探杆上的探测器、以及驱动探杆移动的驱动装置；烘箱上设置有第一通孔，探杆通过驱动装置驱动使得探杆...