西安西电慧创集成电路有限公司专利技术

西安西电慧创集成电路有限公司共有1项专利

  • 本发明公开了一种钝化层结构及制备方法,属功率半导体表面钝化领域。结构含氧化硅基第一钝化层、硅烷‑二氧化硅第二钝化层、氮化硅基第三钝化层,可加聚酰亚胺层;采用PECVD、硅烷氧化沉积制备,配合分阶段气体控制的退火及光刻刻蚀,在简化工艺降低...
1