本申请涉及功率器件测试技术领域，公开一种功率器件的老化测试方法、电子设备及存储介质，功率器件的老化测试方法，包括：将晶圆切割为裸芯片；当裸芯片装载于老化测试夹具中的情况下，通过老化测试夹具对裸芯片进行老化测试；通过老化测试夹具对裸芯片进...