天津伟测半导体科技有限公司专利技术

天津伟测半导体科技有限公司共有8项专利

  • 本发明公开了一种基于微型夹具的动态原位电阻电流测量系统,本发明涉及电学测量技术领域,该系统包括微型夹具模块、信号采集模块、控制模块和数据处理模块,微型夹具模块包括夹具基座、可调节夹持臂和导电探针,用于夹持被测样品并建立电接触,信号采集模...
  • 本发明公开了一种结合全值仿真与二分法的电压Trim测试方法,本发明涉及半导体测试技术领域,通过查表法根据预存的修调码值与电压映射关系确定初始修调码值,以初始修调码值为基准划定修调码值子集,在子集范围内通过精确搜索法确定目标修调码值,精确...
  • 本发明涉及自动化测试技术领域,具体为基于PXIe的IC MultiSite自动化测试系统,包括数据融合单元、智能调度单元、自适应测试单元和智能安全测试单元。本发明针对测试效率受工位数量限制的问题,采用高性能开关矩阵构建仪器资源池,结合动...
  • 本发明公开了一种基于PCB的电流多模式测量方法,本发明涉及电子测量技术领域,将传感夹具夹持于待测PCB走线上,传感夹具包括电流接触端和电压感测端,执行在线电阻测量模式,通过电流接触端注入测试电流,通过电压感测端测量第一电压,计算走线电阻...
  • 本发明公开了一种芯片测试探针健康状态预警系统及预警方法,一种芯片测试探针健康状态预警系统,包括:数据采集模块、数据处理模块和预警执行模块,所述数据采集模块,用于在芯片测试过程中同步采集探针的电参数并记录测试次数;具体地,该模块包括:计数...
  • 本发明公开了一种基于Chroma平台的通用寄存器Pattern生成方法,本发明涉及电数字数据处理技术领域,该方法包括:获取寄存器定义信息,包括寄存器地址、寄存器位宽、寄存器访问类型和寄存器默认值,根据寄存器访问类型确定Pattern生成...
  • 本发明公开了一种动态电压切换测试防烧针保护方法,本发明涉及电子测试技术领域,该方法包括:获取当前测试探针的工作状态参数,接收电压切换指令,计算电压差值,根据电压差值确定电压切换模式,当电压差值大于安全电压阈值时采用分级渐进切换模式,当电...
  • 本发明涉及自动测试技术领域,揭露了基于ATE的直流小信号测量方法,所述方法包括:获取直流小信号的初步范围数据;分析初步范围数据中的幅度特征,确定直流小信号的最优测量量程,并根据最优测量量程,自动配置可编程增益放大设备的增益参数,得到直流...
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