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藤垣元治专利技术
藤垣元治共有1项专利
使用特征量的三维测量方法及其装置制造方法及图纸
预先求出根据从多个投影部投影的图案或上述图案的变化中的至少一方得到的多个特征量与空间坐标的关系,使用上述特征量与上述空间坐标的上述关系,根据从上述多个投影部向测量对象物表面投影的图案或上述图案的变化得到的特征量来求出上述对象物表面的空间...
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