本发明涉及半导体制冷器性能测试设备的技术领域，公开了自动化半导体制冷器性能测试设备，包括第一料盒、第二料盒、移动模组及测试模组，第一料盒和第二料盒分别用于放置晶环件，晶环件包括TEC模组；测试模组包括恒温载物台、激光器、ACR测试模块以...

本技术涉及微型冷风机的技术领域，公开了精密控温式微型冷风机，包括压缩机、冷凝器、冷凝风扇、节流件、蒸发器、蒸发风扇、控制器、环境温度传感器、排气温度传感器及冷风温度传感器，环境温度传感器用于侦测冷凝器的环境温度，排气温度传感器用于侦测压...

本发明涉及热电装置性能测试的技术领域，公开了热电装置性能测试设备及测试方法，包括下压装置、冷面测试装置及热面测试装置，下压装置用于驱动冷面测试装置呈上升或下降；冷面测试装置包括温差测试总成、制冷量测试总成，温差测试总成和制冷量测试总成分...