本发明公开了一种芯片测试方法及芯片测试设备，涉及芯片测试相关技术领域，包括通断底座，所述通断底座下端四角处均连接有连接柱，并通过连接柱以及连接柱内部贯穿的螺栓连接有安装座，所述通断底座上端内部卡接有芯片测试座，且芯片测试座上端内部卡接有...