本发明公开了一种基于深度学习的IGBT器件多参数在线测试方法，涉及半导体器件技术领域，包括以下步骤：一种基于深度学习的IGBT器件多参数在线测试方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、构建图结构数据；S2、将图结构数据输入改进DCRNN模...