本发明公开了基于自学习的芯片数据自检方法及系统，涉及芯片数据自检技术领域；有效提高芯片数据的异常判断能力；本发明通过设置关联芯片状态链，获取中心芯片状态运行组；基于中心芯片状态运行组设置关联芯片状态链的异常数据区间链；采集芯片运行环境数...