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深圳市赛元微电子有限公司专利技术
深圳市赛元微电子有限公司共有33项专利
一种张弛振荡器电路制造技术
本发明提供一种张弛振荡器电路,包括:第一振荡支路和第二振荡支路,用于交替产生半振荡周期信号作为第一输出信号和第二输出信号,第一输出信号和第二输出信号具有峰值;第一比较器和第二比较器,分别接收第一输出信号和第二输出信号,与设定信号比较后,...
一种延时发生电路制造技术
本实用新型公开了一种延时发生电路,涉及集成电路技术领域,包括:电源模块,触发控制模块,手动控制模块,延时控制模块,输出延时模块,指示模块;所述电源模块提供直流稳压,触发控制模块通过光控和声控输出触发信号,手动控制模块通过手控输出触发信号...
一种基于半导体的红外遮挡报警装置制造方法及图纸
本实用新型公开了一种基于半导体的红外遮挡报警装置,涉及红外检测控制技术领域,包括:稳压供电模块,用于提供稳定电压;红外光发射模块,用于输出红外信号,红外光接收模块,用于接收红外信号并输出控制信号;音频调节模块,用于音频调节;音频输出模块...
一种基于MOS管的驱动电路制造技术
本实用新型公开了一种基于MOS管的驱动电路,涉及功率管驱动电路技术领域,包括:稳压供电模块,用于提供稳压;控制信号输入模块,用于提供控制指令;逻辑控制模块,用于输出控制信号;开关控制模块,用于调节输出的电压电位并输出驱动信号;驱动模块,...
一种加湿器雾化驱动电路制造技术
本实用新型公开了一种加湿器雾化驱动电路,涉及雾化驱动技术领域,包括:湿度检测模块,按键控制模块,采样模块,主控制模块,驱动模块,驱动保护模块,显示模块,振荡器模块;所述湿度检测模块检测环境湿度,按键控制模块进行功能选择,采样模块检测驱动...
一种芯片电路模块的电磁屏蔽装置制造方法及图纸
本发明提供一种芯片电路模块的电磁屏蔽装置,包括衬底、稳压电容部、连接结构和多个金属罩部;衬底包括一个或多个交替分布的第一类型衬底区域和第二类型衬底区域,其中外侧的衬底区域环绕位于内侧的衬底区域,第一类型衬底区域包括环形第一类型衬底接触区...
一种低压供电的非稳态多谐振荡器制造技术
本实用新型公开了一种低压供电的非稳态多谐振荡器,涉及多谐振荡器电源技术领域,包括:供电模块,控制模块,电压调节模块,电压输出模块,非稳态多谐振荡器模块,采样保护模块;所述供电模块提供直流电,控制模块控制多谐振荡器工作,电压调节模块进行升...
一种液箱液位检测报警电路制造技术
本实用新型公开了一种液箱液位检测报警电路,涉及液位检测报警技术领域,包括:电容式液位检测模块,压力检测模块,信号调理模块,主控制模块,正弦激励模块,报警驱动模块,报警模块;所述电容式液位检测模块检测液箱液位情况,压力检测模块检测液箱质量...
一种用于芯片表面处理装置制造方法及图纸
本发明涉及芯片的表面处理技术领域,具体为一种用于芯片表面处理装置,设置在壳体内部的筒体,该筒体的后端设置有旋转电机,该旋转电机通过电机安装基座与壳体的内部固定;旋转电机带动固定轴上的多个装有芯片的卡座组件转动,进而带动通入筒体内的处理颗...
一种应用于LDO的保护电路制造技术
本发明公开了一种应用于LDO的保护电路,涉及集成电路设计领域,该应用于LDO的保护电路包括:LDO稳压模块,用于在输出给负载的输出电压减小时,对输出电压增大;在输出电压增大时,对输出电压减小;电压限制模块,用于构建相较于LDO稳压模块输...
一种半导体器件测试装置制造方法及图纸
本发明涉及一种半导体器件测试装置,包括:基座,设置在基座上的转盘,在转盘一侧设置的移动机构;转盘上设置有多个均匀排列的测试治具,在测试治具内设置有用于半导体进行测试的载具,在载具上设置有多个用于半导体器件放置的定位槽;移动机构的上部设置...
微控制器复位方法以及系统技术方案
本发明提供一种微控制器复位方法和系统,所述方法包括以下步骤:接收所述微控制器的电源电压信号,并基于所述电源电压信号生成调频信号;获取所述调频信号的频率参数值,并基于所述频率参数值得到与所述调频信号对应的转换电压信号;基于所述转换电压信号...
一种半导体芯片的缺陷检测装置及方法制造方法及图纸
本发明公开了一种半导体芯片的缺陷检测装置及方法,属于芯片检测设备技术领域,其技术要点是:包括传送带,传送带上放置待检测的半导体芯片,还包括:检测台,检测台内设置有检测模块,检测模块用于检测半导体芯片;夹取机构,夹取机构用于夹取半导体芯片...
一种高灵敏度触控压力检测方法及系统技术方案
本发明提供了一种高灵敏度触控压力检测方法及系统,其中,该方法包括:获取第一触控数据信息,第一触控数据信息为触摸触控屏上正对指纹识别模组的区域获得的;根据第一触控数据信息,获取指纹识别模组检测获得的触控指纹面积信息,获得第一指纹识别区域信...
一种半导体质量检测装置及方法制造方法及图纸
本发明适用于半导体生产相关领域,提供了一种半导体质量检测装置及方法,所述装置包括上料带、转移机构、视觉检测设备和性能检测机构。上料带将半导体元器件传送至转移机构上,视觉检测设备对半导体元器件的外观进行检测之后,转移机构继续将半导体元器件...
一种半导体击穿测试装置及方法制造方法及图纸
本发明适用于半导体生产相关领域,提供了一种半导体击穿测试装置及方法,包括传送带、扫描识别设备、测试机构和变流机构。传送带将半导体持续输送到扫描识别设备以及测试机构所在的位置,扫描识别设备对半导体的型号和引脚数量进行识别,控制测试机构对不...
图形化编程系统及实现单片机的图形化编程的方法技术方案
本发明提供了一种实现单片机的图形化编程的方法,包括:提供图形化编程界面,在所述图形化编程界面中加载多个控件的图标,所述多个控件中的每一控件包括代码段,且所述多个控件包括至少一个可配置控件;响应于对所呈现的控件的选择及拖动,将被拖动的一个...
一种AB类放大器制造技术
本发明涉及一种AB类放大器,包括:输入级电路、第一晶体管对、电阻对、第二晶体管对和第三晶体管对。输入级电路具有第一电压输入端、第二电压输入端、第一电流输出端和第二电流输出端。第一晶体管对包括第一晶体管和第二晶体管。电阻对包括第一电阻和第...
一种用电器及其电容感应型输入检测装置制造方法及图纸
本发明涉及一种电容感应型输入检测装置,包括:触控感应电极阵列、电容检测电路和处理器,触控感应电极阵列包括多个触控感应电极,电容检测电路连接所述多个触控感应电极,用于检测每个触控感应电极上的分布电容,处理器配置为:计算每个触控感应电极的分...
半导体结构及其ESD器件制造技术
本实用新型涉及一种ESD器件,包括:第一类型的衬底第二类型的阱区、至少一组第一类型MOS器件、至少一组第二类型MOS器件、位于阱区且围绕一个或多个第一类型MOS器件的第二类型的第一扩散区、位于衬底且围绕一个或多个第一类型MOS器件的第一...
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