本发明适用于数据识别的技术领域，提供了一种NANDFLASH芯片的测试方法及装置，所述NANDFLASH芯片的测试方法包括：基于预设测试模式对NAND型闪速存储器中的目标存储块进行加速测试操作；统计所述加速测试操作中预设累计失效率对应的...