深圳华工量测工程技术有限公司专利技术

深圳华工量测工程技术有限公司共有10项专利

  • 本申请公开了一种基于分级标定图案的多通道图像对齐方法,该方法在测量治具上设置了一级与二级标定物,其中,一级标定物为预设高精度光刻标定板上的点状图案,二级标定物为材质与被测物做相近匹配的预设低精度的标定体。通过预扫描的方式可同时扫到一级和...
  • 本申请公开了一种多通道跨工位对焦方法,包括:在第一工位扫描被测物时,同步获取被测物表面的三维高度轮廓数据;将三维高度轮廓数据进行插值处理,生成与第二工位扫描路径相匹配的预测高度数据;基于预先标定的坐标系转换矩阵,将预测高度数据映射至第二...
  • 本实用新型涉及平行光源技术领域,为一种组合式同轴平行光源结构,包括LED光源,还包括沿着所述LED光源的入射光路上依次布置的第一X向柱面镜、第一Y向柱面镜、第二Y向柱面镜、第二X向柱面镜及半透半反镜;所述半透半反镜的镜面与所述第二X向柱...
  • 本实用新型涉及晶圆生产技术领域,具体涉及一种晶圆外观检测装置,包括底板,所述底板上设有外观检测工位、视觉检测机构以及XY直线模组,所述外观检测工位设置于所述XY直线模组的一侧,所述视觉检测机构安装于所述XY直线模组上;所述外观检测工位包...
  • 本实用新型涉及晶圆生产技术领域,具体涉及一种晶圆外观自动检测与标记设备,包括XYZR搬运机构、上下料工位、外观检测工位以及标记打点工位,所述上下料工位和所述标记打点工位设置于所述XYZR搬运机构沿Y轴方向的两侧,所述外观检测工位设置于所...
  • 本实用新型涉及镜头设计技术领域,为一种组合透镜组及镜头,其中组合透镜组包括沿着入射光路径上依次布置的第一透镜组、第二透镜组、第三透镜组、第四透镜组及第五透镜组;所述第一透镜组为具有负光焦度的透镜,所述第二透镜组为具有正光焦度的透镜,所述...
  • 本实用新型涉及晶圆生产技术领域,具体涉及一种晶圆自动上料装置,包括底板、上料机构、X轴初定位机构、Y轴初定位机构以及搬运机构,所述上料机构设置于所述底板的一侧,X轴初定位机构、Y轴初定位机构和所述搬运机构均设置于所述底板上,且X轴初定位...
  • 本实用新型涉及晶圆生产技术领域,具体涉及一种晶圆扩膜装置,包括基座、晶圆托板、扩膜板、顶升驱动机构、压板以及下压驱动机构;晶圆托板固定于基座上,所顶升驱动机构固定于晶圆托板的底面上,扩膜板与顶升驱动机构连接;晶圆托板上设置有与扩膜板相配...
  • 本发明涉及晶圆生产技术领域,具体涉及一种晶圆生产设备一种晶圆生产设备及方法,包括壳体,所述壳体内设置有机架、上料机构、外观检测装置、标记打点装置、扩膜装置、下料机构以及用于在所述上料机构、所述外观检测装置、所述标记打点装置、所述扩膜装置...
  • 本发明涉及镜头设计技术领域,为一种组合透镜组及镜头,其中组合透镜组包括沿着入射光路径上依次布置的第一透镜组、第二透镜组、第三透镜组、第四透镜组及第五透镜组;所述第一透镜组为具有负光焦度的透镜,所述第二透镜组为具有正光焦度的透镜,所述第三...
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