本发明公开了一种多模块协同的抽屉式存储芯片测试系统及其测试方法，属于存储芯片测试技术领域。系统包括测试机柜、多个抽屉式测试模块、主控制器以及标准化背板；测试机柜内沿垂直和水平方向设标准化安装插槽，实现抽屉式测试模块三维堆叠排列；抽屉式测...

本发明公开了一种电压调节的DRAM系统级测试系统及其筛选方法。该系统包括测试主板、外部可编程电流源模块、上位机和控制板。测试主板集成有DRAM芯片和片上系统SoC，其中DRAM芯片的电源输入端与PMIC之间处于电气开路状态。外部电流源模...

本发明公开了一种多MCU协同的NAND Flash可靠性演示测试装置，包括通信主控板、可插拔测试小板、统一底板、动态电压切换模块、高可靠通信机制及分段温控系统。通信主控板设第一MCU，协调测试任务并管理温控；各测试小板设第二MCU与适配...

本发明提供一种存储颗粒的规模化筛选测试系统，包括：主控单元、可调恒压源、K个并行设置的测试通道和通信接口，每个测试通道包括引脚切换电路和高精度模数转换器ADC；引脚切换电路由第一模拟开关阵列和第二模拟开关阵列构成；针对存储颗粒的每一引脚...

本申请涉及固态硬盘技术领域，公开了一种固态硬盘数据写入方法及设备，本申请的固态硬盘数据写入方法利用预留的备用块构建临时备用空间，通过固件系统资源状态与垃圾回收模块运行状态的综合判断启动备用空间，可在固件系统空闲块不足或垃圾回收模块运行导...