本申请实施例提出了一种芯片测试的控制方法、控制器及存储介质，涉及芯片测试技术领域，方法包括对所述芯片测试装置进行预设配置处理，得到预设配置信息，其中，所述预设配置处理包括区域布局设置、端口定位校准、芯片测试装置窗口绑定及测试功能自动启动...