上海市测试技术研究所专利技术

上海市测试技术研究所共有8项专利

  • 一种超高频中功率负载采用了特殊设计的卡片式衰减片,并使用新型材料氮化钽铝作为基体。这种卡片式衰减片可以在产品成型后进行阻抗再调节,提高产品的精度和合格率。本产品体积小,衰减功率大,不用风冷,可以用作代天线或用作功率指示。
  • 一种超高频中功率负载采用了特殊设计的卡片式衰减片,并使用新型材料氮化钽作为基体。这种卡片衰减片可以在产品成型后进行阻抗再调节,提高产品的精度和合格率。本产品体积小,衰减功率大,不用风冷,可以用作代天线或用作功率指示。
  • 一种用来检定多普勒雷达测速仪的准确度的运动目标速度模拟器,属计量标准仪器。本模拟器检定测速仪的速度范围很宽,精度高,结构小,成本低,标准溯源方便。本模拟器采用扬声器式结构的换能器将经过功放器后的电振荡讯号转换成机械振动的讯号,作为运动目...
  • 一种用来检定多普勒雷达测速仪的准确度的运动目标速度模拟器,属计量标准仪器。本模拟器检定测速仪的速度范围很宽,精度高,结构小,成本低,标准溯源方便。本模拟器采用金属膜平面活塞振动的扬声器式结构的换能器将电振荡信号转换成机械振动信号,作为运...
  • 本实用新型提供了一种利用光学显微镜直接测量颗粒粒径的测量装置,该装置利用步进电机来驱动载物平台进行视场切换,并用步进电机来驱动可动分划板进行移动。这样通过计算控制分划板移动扫过粒径所需的脉冲数就可精确计算粒径,并可利用微机之类的装置进行...
  • 本发明提供一种利用光学显微镜对颗粒粒径进行直接测量的测量方法及测量装置,采用步进电机来驱动载物平台和可动分划板的移动,从而可根据使可动分划板上的刻线扫过粒径所需输给步进电机的脉冲数来精确测量和计算颗粒粒径,并且输出的脉冲信号可由微机等装...
  • 本实用新型公开了一种能监视书写照度的装置。当书写或阅读光线照度低至或高到照度阀值时,本实用新型会自动发出报警讯号提醒使用人调整光照强度,从而避免由于照度偏离正常值过多引起人眼睫状肌加速疲劳而引起的近视眼。该装置的特点是由光敏电阻和白色漫...
  • 本实用新型提供了一种负压产生装置,该装置的特点是以人手的握力为能源在一个透明罩内产生负压,利用负压将病人的肛门吸出体外供医生观察检查,以减少医生的劳动强度和病人的痛苦。当改变透明罩的几何形状后,该装置还可用于外科疮、疖的排脓之用和其它需...
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