本发明公开了一种半导体时延测试方法，一种半导体时延测试方法，测试回路上设置有网络分析仪、同轴连接器、线缆和老化测试板卡，还包括测试探针组，所述老化测试板卡上设置有若干信号孔，所述线缆依次将所述网络分析仪、所述同轴连接器、所述测试探针组连...