上海交通大学光纤技术研究所专利技术

上海交通大学光纤技术研究所共有1项专利

  • 一种单模光纤双折射测量方法,特别适用于测量短拍长的单模光纤.此方法是利用消光法测出单模光纤在不同扭曲下的偏振状态,即测出两个输出线偏振态的传播相位差2ф的绝对值,绘出sin+[2]—α-[2]l-[2]曲线(此处l-[2]为光纤中间未粘...
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