【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种单模光纤双折射的测量方法，特别适用于测量短拍长单模光纤的双折射。众所周知，单模光纤中只传输最低阶模即HE11模。它实际上是由两个正交模简并而成，对于理想光纤来说，两者的传播常数(即单位长度上相位的变化)相等。但在实际光纤中，由于光纤内部结构不完善，如纤芯呈椭圆状，光纤包层带来的横向内应力等，或光纤受弯、受压、受扭等都会使两个正交模的传播常数不等。“双折射”△β(birefringence)就是在本地座标系中本地X轴及本地y轴方向上的光传播常数之差，即△β＝βx-βy，单位为度/米，与双折射△β对应的拍长Lb定义为2π/△β，表示光波经过Lb长度的传播后，相位差的主值将回复到原值。单模光纤不仅为高速度、长距离的光通信提供了可能性，而且在传感器等其它非通讯技术方面也得到了广泛应用。光纤中的双折射导致了光纤中偏振态的变化，在非单色光源下还导致了偏振模色散及退偏振现象，这些因素直接影响到光纤通信系统及其它应用领域(如传感器)的性能。具有不同双折射的光纤有着不同的用途，例如强双折射光纤(即拍长极短)可使得偏振态稳定，从而保证光外差通讯的质量，而低双折射的光纤...
【技术保护点】
一种单模光纤双折射测量方法，特别适用于测量短拍长的单模光纤，本专利技术的特征包括（ａ），通过单色光源［１］、偏振片［２，８］、物镜［３，７］、四分之一波长片［１０］、光检测器［９］、光纤固定装置［４］、光纤扭曲装置［６］测量单模光纤在不同扭曲角下的偏振状态，即测出｜φ｜值；（ｂ）绘出ｓｉｎ↑［２］φ～ａ↓［２］１↓［２］曲线，找出上述曲线的对称纵轴，测出上述曲线上距对称纵轴的最近的右侧极值点相对于对称纵轴的横座标＊＊＊及上述极值点右侧最近的极值点相对于对称纵轴的横座标＊＊＊然后用公式（１）＊＊＊求出双折射值。此处：△β为单模光纤的双折射；Ｋ为光弹系数，近似值为０．０７；ｌ↓...
【技术特征摘要】
1.一种单模光纤双折射测量方法，特别适用于测量短拍长的单模光纤，本发明的特征包括(a)，通过单色光源[1]、偏振片[2，8]、物镜[3，7]、四分之一波长片[10]、光检测器[9]、光纤固定装置[4]、光纤扭曲装置[6]测量单模光纤在不同扭曲角下的偏振状态，即测出｜φ｜值；(b)绘出sin2φ～a2l2曲线，找出上述曲线的对称纵轴，测出上述曲线上距对称纵轴的最近的右侧极值点相对于对称纵轴的横座标a2′l2及上述极值点右侧最近的极值点相对于对称纵轴的横座标a2″l2，然后用公式(Ⅰ)求出双折射值。此处△β为单模光纤的双折射；K为光弹系数，近似值为0.07；l2为单模光纤未粘部分的长度；a2为单模光纤未粘部分的扭曲率；2φ为两输出线偏振态的传输相位差。2.如权利要求1所述的测量方法，特征在于用消光法测量单模光纤在不同扭曲角下的｜φ｜值，测量步骤包括(a)将单模光纤〔5〕的一端粘固在光...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄上元，林宗琦，
申请(专利权)人：上海交通大学光纤技术研究所，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]
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