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一种单模光纤双折射测量方法，特别适用于测量短拍长的单模光纤．此方法是利用消光法测出单模光纤在不同扭曲下的偏振状态，即测出两个输出线偏振态的传播相位差２ф的绝对值，绘出ｓｉｎ＋［２］—α－［２］ｌ－［２］曲线（此处ｌ－［２］为光纤中间未粘部分...
该专利属于上海交通大学光纤技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过上海交通大学光纤技术研究所授权不得商用。

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