上海常巍电子有限公司专利技术

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  • 本实用新型公开了一种应用于ESOP封装器件的测试装置,包括设置在所述安装架上的第一测试机构和第二测试机构,所述第一测试机构和所述第二测试机构之间形成测试区域,所述第一测试机构包括第一测试片和第一驱动组件,所述第一测试机构用于驱动所述第一...
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