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森特电子计量有限公司专利技术
森特电子计量有限公司共有2项专利
用于对具有未知材料的平的物体进行轮廓测量的装置和方法制造方法及图纸
本发明涉及一种用于对具有未知材料的平的物体(20)的物体表面(40)进行轮廓测量的方法和装置(2),该装置包括:光学干涉测量系统(4);椭圆偏振测量系统(5);用于将光源(111)的光束分裂成干涉测量光束(410)和椭圆偏振光束(420...
用于测量物体的高度轮廓的装置和方法制造方法及图纸
本发明涉及一种用于通过干涉式距离测量来感测物体的物体表面(30)的表面轮廓的光学装置和系统,包括:用于将光源(7)的光束(84)分成第一子光束(410)和第二子光束(420)的分光器(3);用于将光源(7)的每个子光束(410,420)...
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