本发明公开了一种在聚焦离子束显微镜中进行快速样品制备的方法和装置，用于制备ＴＥＭ样品架（１７０）的样坯（１００），其包括片材（１２０），所述片材包括ＴＥＭ样品架模板（１７０）。片材（１２０）至少有一部分将ＴＥＭ样品架模块（１７０）与片材...

本发明公开了一种在聚焦离子束显微镜中进行快速样品制备的方法和装置，用于制备ＴＥＭ样品架（１７０）的样坯（１００），其包括片材（１２０），所述片材包括ＴＥＭ样品架模板（１７０）。片材（１２０）至少有一部分将ＴＥＭ样品架模块（１７０）与片材...

本发明公开了一种在聚焦离子束显微镜中进行快速样品制备的方法和装置，用于制备ＴＥＭ样品架（１７０）的样坯（１００），其包括片材（１２０），所述片材包括ＴＥＭ样品架模板（１７０）。片材（１２０）至少有一部分将ＴＥＭ样品架模块（１７０）与片材...

本发明公开了一种在聚焦离子束显微镜中进行快速样品制备的方法和装置，用于制备ＴＥＭ样品架（１７０）的样坯（１００），其包括片材（１２０），所述片材包括ＴＥＭ样品架模板（１７０）。片材（１２０）至少有一部分将ＴＥＭ样品架模块（１７０）与片材...

本发明公开了一种用于制备ＴＥＭ样品架（１７０）的样坯（１００），其包括片材（１２０），所述片材包括ＴＥＭ样品架模板（１７０）。片材（１２０）至少有一部分将ＴＥＭ样品架模块（１７０）与片材的其他部分相连。通过在压机中从样坯上切出ＴＥＭ样品...

本发明公开了一种分析停留在第一样品表面（１１０）上的微小颗粒（１００）成分的方法。此方法包括使微操纵器探针（１２０）接近颗粒（１００）；将颗粒（１００）附着到探针（１２０）上；从第一样品表面（１１０）上将探针（１２０）和所附着的颗粒（１...