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QED技术国际股份有限公司专利技术
QED技术国际股份有限公司共有10项专利
高去除率的磁流变精加工头制造技术
磁流变精加工头,包括磁极片,其被定制成喷嘴形状和轮形状以最大化体积去除率。用于磁流变流体带的承载轮是非球面的,优选具有垂直于旋转轴的短半径和平行于旋转轴的长半径的环形,尽管所述轮的形状可为平行于轮的旋转轴的任何非球面或自由形态,例如,环...
集成的波前传感器和轮廓测定仪制造技术
一种用于测量非球面光学表面的仪器,包括:光学波前传感器和单点光学轮廓测定仪这两者。所述光学波前传感器测量在非球面测试表面的一个或者多个区上的表面高度变化。所述单点轮廓测定仪测量沿着所述非球面测试表面上的一条或者多条轨迹的表面高度变化。至...
用于超光滑抛光的磁流变流体制造技术
用于基板表面的磁流变超光滑抛光的磁流变流体,包含:含水载体载剂;第一量的平均直径为1微米到2微米的磁性颗粒;以及第二量的平均直径为小于1纳米到15纳米的研磨剂颗粒。所述流体可进一步包含化学稳定剂。优选地,所述磁性颗粒的尺寸比所述研磨剂颗...
用于磁流变流体中磁性颗粒浓度的测量和控制的方法和设备技术
用于感测和控制磁流变流体中磁性颗粒浓度的系统包括导线线圈和AC电压发生器,当其被通电时产生包括边缘场的磁通场。当该边缘场延伸穿过磁流变流体时,电路中的阻抗与磁性颗粒的浓度成比例。与感测导线线圈相同的参考导线线圈与感测导线线圈连接。解调器...
用于基材磁流变抛光的系统技术方案
用于基材的磁流变抛光的系统。集成流体管理模块(IFMM)提供了在常规MR抛光装置上的MR流体的流变流体性能的动态控制,并将流体分配到轮。充有MR流体的磁屏蔽腔室与承载轮接触。当带状物离开加工区域时,横向线从所述轮上去除使用过的MR流体。...
用于基材的磁流变抛光的系统技术方案
一种用于基材的磁流变抛光的系统。用于承载磁流变抛光流体的球形轮容纳可变磁场永磁体系统,所述可变磁场永磁体系统具有被主间隙和副间隙分开的南北铁磁极片,并在中心贯穿有一圆柱形空腔。在所述空腔中可旋转地设置有沿圆柱轴线的法线磁化的圆柱形永磁体...
合成物方表面的全数值孔径图的方法技术
本发明提供一种从表面的多个重叠子孔径数据图合成物方表面的全数值孔径图的方法,包括步骤:选择减小重叠子孔径数据图的测量误差的至少一种方法;从表面的多个区域采集多个子孔径数据图,至少每个子孔径数据图的一部分与至少一个相邻子孔径数据图的一部分...
确定波前测量仪表的第一级光学参数和图像共轭的方法技术
在包括零件定位装置和具有聚焦台和多个不变的第一级特性参数的波前测量仪表的计量系统中,一种用于确定波前测量仪表的第一级光学参数和用等式描述的图像共轭的方法,该方法包括以下步骤:a)确定“ob_ref”,其是在所述仪表内从物方参考点到第一主...
近空值子孔径测量的拼接制造技术
一种通过子孔径拼接测量非球面测试对象的度量系统。对波阵面形状具有有限捕捉范围的波阵面测量仪在测试对象上收集部分重叠的子孔径测量元。可变光学像差仪通过在有限数量的测量元之间使测量波阵面重新成形,来将测量波阵面保持在波阵面测量仪的捕捉范围内...
非球面的精确高分辨率测量方法技术
本发明提供一种系统,其包括在大大地提高精度的情况下从测试件测量表面或波前的多种方法,特别是非球面的较高空间频率。这些方法包括测试件的多个测量结果。这些方法之一包括校准和控制计量仪表的聚焦补偿,以避免在测试件相对仪表重新定位时的分辨率和精...
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