本发明涉及芯片测试设备技术领域，且公开了一种芯片用高加速老化试验箱电缆线耐压穿板结构，包括弹性内芯、穿板主体和内芯压管，所述穿板主体设置于内芯压管的下方，所述弹性内芯设置于穿板主体的内部，所述穿板主体的下端内壁开设有锥形槽，所述弹性内芯...

本发明涉及老化试验箱技术领域，且公开了高压加速老化试验箱防芯片样品凝露结构，包括机架和装置外壳，所述装置外壳设置于机架的内侧，所述装置外壳的一侧为开口设置，所述开口的外侧相抵设置有盖板，所述盖板通过锁紧扣件与装置外壳固定连接，所述装置外...

本发明涉及调湿结构技术领域，且公开了高压加速老化试验箱平衡调湿结构，包括试验仓和蒸汽发生器，所述蒸汽发生器设置于试验仓的下方，所述蒸汽发生器的内部设置有水加热器，所述蒸汽发生器和试验仓之间设置有换热器，所述换热器的内部固定穿设有加湿管路...

本申请涉及老化试验箱技术领域，且公开了加速老化试验箱舱门锁止结构，包括腔体、舱门和链条锁止夹抱机构，所述腔体靠近舱门的一端外侧固定连接有第一固定环板，所述舱门靠近腔体的一端外侧固定连接有第二固定环板，所述链条锁止夹抱机构设置在腔体和舱门...

本发明属于加速老化试验设备技术领域，尤其是涉及加速老化试验箱可折叠的样品测试支架，包括测试样品层板主体和两个连接架，两个所述连接架相对的一侧共同固定连接有接电端子板，两个所述连接架相背的一侧均开设有连接凹槽。本发明使用于加速老化试验箱的...