本发明属于半导体测试技术领域，提供了一种半导体电学性能测试装置，所述底座内转动安装有输送带且输送带上固定安装有多组间隔分布的输送块，所述底座上固定安装有检测箱，检测箱的侧面固定安装有向检测箱内输送冷气的制冷器，检测箱内底部固定安装有放置...