本发明公开了一种用于动态时隙分配的集成电路故障监管方法及系统，包括：采集多源时隙数据并预处理，生成标准化数据集；基于标准化数据集，使用遗传编程生成描述时隙分配与故障检测关系的数学公式；使用模糊C均值聚类对标准化数据集进行聚类，识别数据状...