本发明属于半导体芯片检测技术领域，且公开了一种半导体用超声波缺陷检测辅助设备，包括检测安装架，还包括，连通模组，所述连通模组分别设置在检测安装架的两侧，且内部滑移连接有与检测安装架内部活动连接的拉动模组，活动模组，所述活动模组安装于连通...