理学半导体仪器有限公司专利技术

理学半导体仪器有限公司共有1项专利

  • 本公开提出了XRF检测系统和相应的方法。该系统和方法涉及样本的检测。该系统包括:至少一个X射线辐射源,该至少一个辐射源提供选定能量谱的X射线辐射;光学布置,该光学布置用于将该X射线辐射聚焦到该样本的选定检查点上;以及至少一个探测器,该至...
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