本实用新型公开了一种测试ＩＣ芯片及电子回路电气连接用的测试插件。连接插件由伸缩弹簧与芯柱组成，本连接插件与上基板第一连接下电极及下基板的第二连接上电极形成电气回路，具有电阻较小、电感值小、结构简单，便于大批量生产，成本比较低的特点。利用...

本实用新型公开了一种测试用的探针结构，由针管、针轴、弹簧所组成，针管口滚有两条沟，将带有斜面的针轴与弹簧组装于针管内，其特征在于：在针轴尾部先车小一段外周面，使其直径小于针轴的直径，用倒角将车小过外周面的针轴尾部与针轴外周面连接。由于在...