本发明涉及集成电路检测技术领域，且公开了一种集成电路检测平台及其检测方法，包括检测台，所述检测台的底部固定连接有四个支撑柱，所述检测台顶部固定连接有安装架，所述安装架正面设置有安装框，所述安装框内安装有显示屏，所述安装架的底部固定连接有...