本技术公开一种垂直式探针卡对焦系统，其包括一电路基板与一探针座，该探针座上装设有多根测试探针与多根对焦探针，该测试探针的针尖端和该对焦探针的针尖端突伸出该探针座的该底面，每一该对焦探针突伸出该探针座的该底面的长度短于每一该测试探针突伸出...