本发明公开了集成电路检测技术领域的一种集成电路检测装置及检测方法，包括工作台、支撑座和顶板，所述顶板的上端底部固定连接有放置块，所述放置块的底部开设有通槽，所述通槽的内部活动卡接有支撑板和挤压板，所述放置块的正面通过限位块和调节块转动安...