本发明涉及芯片测试技术领域，具体是一种BGA芯片测试架，包括支撑安装盘，所述支撑安装盘上方正对设置有升降安装盘，还包括：转动变位机构，设置在升降安装盘上，所述转动变位机构包括若干变位组合检测模块；若干个芯片定位夹持机构，等角度设置在升降...