本发明涉及电路设计技术领域，公开了一种脉冲宽度稳定的低功耗上电复位电路及其应用，该上电复位电路包括上电复位模块、上电延迟模块和脉冲生成模块，上电复位模块接入电源电路并配置成在电源电压达到复位阈值电压时产生第一复位信号por1，上电延迟模...

本发明公开了一种基于低算力MCU的驱动芯片功能测试方法，属于芯片测试技术领域，解决了现有测试方法测试时，由于芯片内存及功能模块数量不断增加，导致测试方法成本较高、算力负载重的问题，方法包括：基于至少一组测试指令获取待测芯片返回的功能配置...

本发明公开了一种基于MCU控制的电池控制电路，涉及电池控制技术领域，包括智能控制模块，用于模块控制和信号接收；电池充放电控制模块，用于控制电池模块的充放电工作并由电能传输模块进行电能传输；电量检测模块，用于电量检测、过压判断和低压判断；...

本发明公开了一种MCU安全保护电路，涉及供电保护技术领域，包括第一电压采样模块，用于对电源模块提供的电能进行电压采样；第二电压采样模块，用于对电能控制模块输出的电能进行电压采样；第一电压比较模块，用于设定输入比较阈值并进行过压比较和欠压...

本发明公开了一种MCU外部复位电路，涉及MCU技术领域，包括电源模块，用于上电；辅助电源模块，用于供电；模式切换模块，用于电源切换控制；电压检测控制模块，用触发电能控制模块的工作和电压检测；电能控制模块，用于进行电能传输工作；整形触发模...

本发明公开了一种基于AI芯片的任务处理方法和装置，解决了现有方法在接收任务请求并确定所述任务请求的任务类型时，并未对任务优先级别进行确定无法快速响应的问题，方法包括：对A I芯片任务数据进行预处理数据；基于预设的调度分析模型对预处理数据...

本发明公开了一种MCU电源管理电路，涉及MCU电源技术领域，包括电源模块，用于供电；传输控制模块，用于电能传输控制，MCU电源模块，用于与MCU芯片连接；辅助电源模块，用于储能和供电；输出采样模块，用于输出采样并由采样保持模块进行采样传...

本发明公开了一种MCU控制器保护电路，涉及单片机保护技术领域，包括电源传输模块，用于将电源模块接入的电能传输给MCU模块并控制电能的传输状态；阈值控制模块配合电压比较模块进行一级过压检测和二级过压检测；采样保持模块，用于在一级过压时进行...

本发明公开了一种AI芯片测试管理系统及方法，属于芯片测试技术领域，解决了现有的性能模拟器无法适应AI芯片不断的迭代更新，使得性能测试结果不精准的问题，方法包括：在AI芯片架构中设置测试匹配器；基于预建立的测试匹配模型生成测试代码，AI芯...

本发明公开了一种AI设备用的电源控制电路，涉及电源控制技术领域，包括主电源控制模块，用于供电控制；AI设备模块，用于电能接收和模块控制；信号控制模块，用于传输待机控制信号；光伏控制模块，用于进行光电转换和电压调节处理；电量检测模块，用于...

本发明涉及半导体技术领域，公开了一种NOR Flash存储单元及其制备方法和应用，该NOR Flash存储单元包括硅基底、埋氧化层、顶硅层以及设置在顶硅层上并向下延伸直至埋氧化层的第一掺杂区、设置在所述第一掺杂区上的浮栅结构、称设置在所...

本发明公开了一种AI芯片的计算和通信的融合方法、装置及AI芯片，解决了现有方法计算时A I芯片工作于网络计算模式时，时序收敛以及运算程序切换困难，从而影响AI芯片对数据的计算和处理效率的问题，方法包括：获取AI芯片接收的通信任务列表，得...

本发明涉及半导体技术领域，公开了一种低功耗高性能Flash存储单元及其制备方法和应用，该低功耗高性能Flash存储单元包括衬底，包括衬底、源区、源极栅和分栅结构和字线栅，源极栅连接源区并向上延伸，分栅结构包括对称设置在所述源极栅两侧的第...

本发明涉及半导体技术领域，公开了一种分栅快闪存储单元及其制备方法和应用，该分栅快闪存储单元包括衬底，其上形成有沟槽；源极栅，其设置于沟槽上方并向下延伸与设置在沟槽底部衬底中的源区连接；分栅结构位于衬底上包括对称设置在源极栅两侧的第一分栅...

本发明涉及芯片烧写技术领域，特别是涉及一种FLASH芯片自动烧写装置，其包括底座、圆台、支架、气泵、内管、液压缸和接料盒。底座上设置传送组件。圆台，圆台上设置若干个子板，子板上设置放置座。圆台上设置转轴B。支架，支架上设置驱动转轴B的电...

本发明涉及半导体技术领域，公开了一种重放保护单调计数器、计数方法及存储介质，其中计数器包括存储块、计数进位模块和计数缓存模块，存储块包括分别用于高位和低位计数的两计数存储块，计数进位模块用于储存计数进位标志位，计数缓存模块用于缓存记录计...

本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种FLASH储存芯片测试治具，包括治具滑动底座、调节底座、夹持台、调节气缸、夹持座、夹持丝杠、夹持板、测试架和调节滑动座。本发明将通过设置测试架，测试单一FLASH芯片本体时，使测试架的外延边缘与F...

本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种验证SPIFLASH芯片电应力的夹具。其包括PCB板和夹持台；夹持台下端设置可转动的支撑杆，上端设置夹持组件和支撑架；夹持组件包括调节件和夹持件；夹持件呈镜像设置在夹持台的两侧，通过调节件调节两侧...

本发明涉及芯片加密领域，具体为一种Flash加密存储装置。其包括封装壳、前置验证芯片、Flash芯片和衔接模组；封装壳内部具有依次分布的安装腔a、空腔和安装腔b；前置验证芯片封装在安装腔a内侧，前置验证芯片具有穿出至封装壳外侧的引脚a和...

本发明涉及电路设计技术领域，公开了一种基于Flash存储阵列的高效单调计数方法、计数器及应用，方法包括对存储阵列执行擦除操作和对存储阵列按计数一次则顺序执行一位编程操作，计数器主要包括存储阵列模块、计数值转换电路模块和计数自加准备电路模...